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QNix 4500便携新款膜厚仪

QNix 4500便携新款膜厚仪

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QNix 4500便携新款膜厚仪。高精度的设备,坚固的结构和便于使用等特点使得该仪器具有广泛的应用。 只要正确使用和维护,它的寿命会很长。仪器需要保持清洁, 不要摔落, 避免与 潮气,具有化学腐蚀性的物质或气 体接触。使用完毕,仪器应被放回具有保护性 和便于挪动的盒子中。

QNix 4500便携新款膜厚仪的详细资料:

QNix 4500便携新款膜厚仪

 

  尼克斯测厚仪检测的方法
无损检测技术是一门理论上综合性较强,又非常重视实践环节的很有发展前途的学科。它涉及到材料的物理性质、产品设计、制造工艺、断裂力学以及有限元计算等诸多方面。
在化工、电子、电力、金属等行业中,为了实现对各类材料的保护或装饰作用,通常要采用喷涂、有色金属覆盖以及磷化、阳极氧化处理等方法,这样,便出现了涂层、镀层、敷层、贴层或化学生成膜等概念,我们称之为“覆层”。覆层的厚度测量已成为金属加工工业已用户进行成品质量检测必备的zui重要的工序。是产品达到优质标准的必备手段。
目前,国内外已普遍按统一的国际标准测定涂镀层厚度,覆层无损检测的方法和仪器的选择随着材料物理性质研究方面的逐渐进步而更加至关重要。
有关覆层无损检测方法,主要有:楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线莹光法、β射线反射法、电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中除了后五种外大多都要损坏产品或产品表面,系有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。X射线和β射线反射法可以无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围小。因有放射源,故使用者必须遵守射线防护规范,一般多用于各层金属镀层的厚度测量。电容法一般仅在很薄导电体的绝缘覆层厚度测试上应用。磁性测量法及涡流测量法,随着技术的日益进步,特别是近年来引入微处理机技术后,测厚仪向微型、智能型、多功能、高精度、实用化方面迈进了一大步。测量的分辨率已达0.1μm,精度可达到1%。又有适用范围广,量程宽、操作简便、价廉等特点。是工业和科研使用zui广泛的仪器。采用无损检测方法测厚既不破坏覆层也不破坏基材,检测速度快,故能使大量的检测工作经济地进行。

    测厚仪采用的电子技术,能满足各种不同的测量要求。高精度的设备,坚固的结构和便于使用等特点使得该仪器具有广泛的应用。 只要正确使用和维护,它的寿命会很长。仪器需要保持清洁, 不要摔落, 避免与 潮气,具有化学腐蚀性的物质或气 体接触。使用完毕,仪器应被放回具有保护性 和便于挪动的盒子中。温度的剧烈变化将影响测量结果,所以不要直接把仪器暴 露在强烈的阳光下或能引起温度聚变的能量中。仪器对大多数溶剂具有抵抗性, 但不能保证极少数化学物质的腐蚀,只有探针保持清洁,才能获得准确的数据,所 以要定期检查探针,清理探针上残留的污物诸如漆等。仪器长期不被使用时, 为 避免因漏电而损坏,要取出电池。出现故障时,请不要自行修理,我们的维修部门 随时竭诚为您服务。 产品从购买之日起保修一年,红宝石磨损及其他人为因素造成仪器损坏不予 保修。

  

QNix 4500便携膜厚仪

    可以测量磁性基体(Fe模式);可以测量非磁性基体(NFe模式);测量范围:Fe:0-3000um;NFe:0-3000um;显示精度:0.1um;精度:0-50um:≤±1um  50-1000um:≤±1.5%读数  1000-3000um≤±3%读数;zui小接触面:10×10mm;zui小曲率半径:凸面:3mm;凹面:25mm;zui小基体厚度:Fe:0.2mm/NFe:0.05mm;温度补偿范围:0-60℃;显示:LCD液晶(带背光);探头:红宝石固定式;电源:2×1.5V干电池;尺寸:100×60×27mm;重量:110g

    通过与工艺,行业和服务行业的用户密切合作,已经创建了一个模块化涂层厚度计,将各种经过验证的QNix量规的许多特性结合在一个设备中。模块化测量系统是一种特别小巧便利的涂层厚度计,可直接插入微型探头。为了灵活使用,微型探头也可以连接到延长电缆。模块化测量系统提供高达5000μm的移动性,高测量精度,易于处理和不同寻常的应用。 是一种特别小巧便利的测量仪,用于对所有Fe和NFe衬底上的涂层厚度进行非破坏性测量。可以通过直接插入微型探头或将探头连接到插入的延长电缆上使用。

 

QNix 4500便携式膜厚仪

仪器使用:

1.开机: 装入电池后按红色按键或将仪器探头垂直接触被测物体表面并压实,仪器将 自动开机。(使用时务必要使探头垂直接触被测物表面并压实,禁止接触状态下 横向滑动探头,以免划伤探头前端红宝石。每次测量后将仪器拿起,离开被测物 10cm 以上,再进行下次测量。)
2.设置: 开机后按红色按键进入菜单,QNix®4500 为 4 个选项,QNix®4500 为 2 个选 项,见下图:
选择基体 选择基体 Fe NFe Fe/NFe 取平均值 QNix®4500 QNix®4200
“Fe”为磁性金属基体模式, “NFe”为非磁性金属基体模式(仅 QNix®4500), “Fe/NFe”为自动识别基体模式(仅 QNix®4500), “取平均值”为仪器自动显示 zui后三次读数的平均值(包括本次测量)。
按红键进入菜单后,继续按红键进行选择,将光标在选项上停留 2 秒后,进 入所选项目。如在“Fe”选项上停留 2 秒后,仪器显示如下:
Fe 测量模式
这时仪器进入 Fe(磁性金属基体)模式下工作。QNix®4500 也可选择 NFe(非 磁性金属基体)、Fe/NFe(磁性非磁性基体自动识别)模式下工作。
进入“取平均值”选项后,仪器显示如下
取平均值 关 开
在“开”选项上停留 2 秒后,取平均值开启,测量时显示数据为zui后三次读
数的平均值(包括本次测量),测量时在屏幕右上角出现“
— X ”符号时表示取平
均值开启,如不需要请关闭(在取平均值选项里选择“关”)即可。

3.测量: (1)调零: 仪器在测量前,应在基体上取零位作基准。建议用未喷涂的同一种工件表面 调零,因为材料之间导磁性和导电性不同,会造成一定误差。 选择相应 Fe 或 NFe 模式后,将仪器探头压在调零板或未喷涂的工件表面上, 不要抬起,按一下仪器上的红键松开,仪器依次显示“零位参照、放置探头”、 “零位参照,拿起探头”或听到仪器响声后,拿起仪器,出现一组数据或听到响 声后,液晶显示 0,调零完毕。
注意:由于工件表面粗糙度等原因,调零后,再测时不一定是的零位, 这是正常现象。
(2)测量 将仪器探头垂直接触被测物的表面,仪器将自动测出并显示数据。(建议用 拇指和食指拿住仪器凹槽处使用,分体型用拇指和食指拿住探头凹槽处使用)

4.分体型说明: QNix®4200P、QNix®4200P5、QNix®4500P、QNix®4500P5 采用有线分体型设 计,测量方便、稳定、准确,探头连接线坚固耐用,还可满足一些狭小空间的测 量。探头线和探头可更换。

 


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