QNix 7500测厚仪尼克斯膜厚仪代理的详细资料：

QNix 7500测厚仪尼克斯膜厚仪代理

影响QNix 尼克斯测厚仪测量的几种因素
每一种测厚仪器都有一个临界厚度，大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响;对试件表面形状的陡变敏感，因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的;试件的曲率对测量有影响，随着曲率半径的减少明显地增大，因此，在弯曲试件的表面上测量也是不可靠的;
基体金属和涂层的表面粗糙度对测量有影响。粗糙度增大，影响增大，粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同的位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体上基体金属粗糙，还必须在未涂的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点，或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解去除涂层后，再校对仪器的零点;
周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重干扰磁性测厚工作;
探头会使软涂层试件变形，因此在这些试件上测不出可靠的数据;
妨碍探头与涂层表面紧密接触的附着物质，必须清除，在测量中，要保持压力恒定，探头与试件表面保持垂直，才能达到的测量。
磁性法测量厚度受基体金属性变化的影响(在实际应用中，无损检测低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的)，为避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;
基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成份及热处理方法有关,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

影响QNix 尼克斯测厚仪精度的十一条因素：
1、基体金属磁性质
磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响，为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。
2、基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。
3、基体金属电性质
基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
4、边缘效应
本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
5、曲率
试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
6、试件的变形
测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。
7、表面粗糙度
基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。
8、磁场
周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。
9、附着物质
本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
10、测头压力
测头置于试件上所施加的压力大小会影响QNix 尼克斯测厚仪的使用方法测量的读数，因此，要保持压力恒定。
11、测头的取向
测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。
采用QNix 尼克斯测厚仪这种无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行，但前提是能了解影响QNix 尼克斯测厚仪精度的因素，做到有的放矢，在实际应用中才能真正发挥其作用。

QNix 7500测厚仪尼克斯膜厚仪代理

测量钢，铁，铝，锌，铜，黄铜7500模块化测量系统提供高达5000μm的移动性，高测量精度，易于处理和不同寻常的应用。 QNix®7500是一种特别小巧便利的测量仪，用于对所有Fe和NFe衬底上的涂层厚度进行非破坏性测量。可以通过直接插入微型探头或将探头连接到插入的延长电缆上使用。只需放置阅读。通过简单的交换探头，使QNix®7500适应相应的测量任务。可以使用多种可互换探头。要更换探头，只需拉出一个探针并插入另一个。然后立即开始使用仪表。简单和用户友好。即使在其基本版本中，QNix®7500也配备了RS 232或USB接口，可将读数在线传输到PC。 尽管使用范围非常广泛，但QNix®7500特别小巧，方便。 创新的霍尔传感器技术使得可以在没有复杂的控制键和按钮的情况下设计此仪表。 像Nix自动化博士所有的手持式测量仪器一样，QNix®7500的特点是操作异常简单，安全，测量精度高，便于使用和大容量存储。