• FERITSCOPE FMP30标准版铁素体测定仪
    FERITSCOPE FMP30标准版铁素体测定仪

    FERITSCOPE FMP30标准版铁素体测定仪。 该仪器适合根据DIN EN ISO 17655进行测量。应用领域是现场测量,例如奥氏体电镀以及不锈钢管,容器,锅炉或其他由奥氏体或双相钢制成的产品的焊缝。

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  • 销售库仑法测厚仪
    销售库仑法测厚仪

    销售库仑法测厚仪:COULOSCOPE CMS (库仑测量系统)使用库仑方法测量镀层厚度。配备了一个大的,易读取的液晶显示器,直观的菜单指引系统,该仪器理想的适用于测量几乎所有的金属基材或非金属基材上的金属镀层的厚度,包括多镀层。使用在不能进行或不需要进行非破坏性测试方法的场合。

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  • 电解测厚仪Couloscope CMS2 STEP
    电解测厚仪Couloscope CMS2 STEP

    电解测厚仪Couloscope CMS2 STEP COULOSCOPE CMS2的仪器通过电解去除层来测量涂层厚度。 特别地,库仑法可以用于地确定任何种类的基底上的多层。 部署CSM2 STEP版本,用于单层标准的STEP测试测量,并检测潜在的差异,例如在镍多层质量控制中。同时测量涂层厚度和电化学电位根据库仑法。

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  • DualScope MPOR测厚仪上海供应
    DualScope MPOR测厚仪上海供应

    DualScope MPOR测厚仪上海供应:非铁金属镀层(例如:铬,铜,锌等)在铁或钢上。 油漆、腊克和合成涂层在铁或钢上。 非导电涂层在非铁金属基材上,例如:油漆、腊克和合成涂层在铝、铜、黄铜、锌和不锈钢上。

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  • Couloscope CMS2 STEP汽车内饰件测厚仪
    Couloscope CMS2 STEP汽车内饰件测厚仪

    Couloscope CMS2 STEP汽车内饰件测厚仪 作为测量镀层厚度Z简单的方法之一,库仑法可以用于 各种镀层组合。 尤其对于多镀层结构, 当允许破坏性测 量时,它提供了一个比 X 射线更经济的替代方法。 很多常见的单、双镀层例如铁镀锌或者铜镀镍镀锡都可 以用 CMS2 简单快速地测量。这个方法为任何金属镀层 提供了的测量。在厚度范围 0.05 - 50 μm 内, 很多 材料不需

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