现货Fischer DualScope FMP40测厚仪代理的详细资料：

现货Fischer DualScope FMP40测厚仪代理

影响涂层测厚仪测量值精度的因素

　　1．影响因素的有关说明

　　a 基体金属磁性质

　　磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。

　　b 基体金属电性质

　　基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

　　c 基体金属厚度

　　每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。

　　d 边缘效应

　　本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

　　e 曲率

　　试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

　　f 试件的变形

　　测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。

　　g 表面粗糙度

　　基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。

　　g 磁场

　　周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。

　　h 附着物质

　　本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。

　　i 测头压力

　　测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。

　　j 测头的取向

　　测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。

　　2．使用仪器时应当遵守的规定

　　a 基体金属特性

　　对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。

　　对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。

　　b 基体金属厚度

　　检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，可采用3.3中的某种方法进行校准。

　　c 边缘效应

　　不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。

　　d 曲率

　　不应在试件的弯曲表面上测量。

　　e 读数次数

　　通常由于仪器的每次读数并不*相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。

　　f 表面清洁度

　　测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质

现货Fischer DualScope FMP40测厚仪代理介绍：

• FMP40涂层测厚仪自动识别底材

•  菲希尔DUALSCOPE FMP40测厚仪膜厚仪能够通过外部触发测量（例如：测量直径很小的空心圆柱体的内壁）

•  菲希尔DUALSCOPE FMP40测厚仪膜厚仪使用未知材料的镀层进行校准（仅限于磁感应法）

• 菲希尔DUALSCOPE FMP40测厚仪膜厚仪配备 USB接口可以连接计算机和打印机

•  菲希尔DUALSCOPE FMP40测厚仪膜厚仪电池供电和交流电源(可选件)供电

•  菲希尔DUALSCOPE FMP40测厚仪膜厚仪可以储存100个应用程式，包括校准信息。

•  菲希尔DUALSCOPE FMP40测厚仪膜厚仪可以储存 20,000 个读数

•  菲希尔DUALSCOPE FMP40测厚仪膜厚仪可以储存 4,000 个数据组

•  菲希尔DUALSCOPE FMP40测厚仪膜厚仪的数据组包含日期和时间信息

•  菲希尔DUALSCOPE FMP40测厚仪膜厚仪能够手动纠正已储存的读数

•  菲希尔DUALSCOPE FMP40测厚仪膜厚仪包含应用程式关联功能：多个应用程式能使用相同的归一化/校准信息

•  菲希尔DUALSCOPE FMP40测厚仪膜厚仪能够通过电脑计算机可以编辑应用程式名称（可选件：MP-Name软件）

•  菲希尔DUALSCOPE FMP40测厚仪膜厚仪拥有数据组统计值和所有数据统计值

•  菲希尔DUALSCOPE FMP40测厚仪膜厚仪能够展现测量数据直方图显示

•  菲希尔DUALSCOPE FMP40测厚仪膜厚仪可输入上下限公差并估算 cp 和 cpk值

•  菲希尔DUALSCOPE FMP40测厚仪膜厚仪的测量结果超出公差范围时仪器发出视觉和声音警告

 菲希尔DUALSCOPE FMP40测厚仪膜厚仪This universal instrument can be used to measure numerous coatings both on iron/steel and on non-ferromagnetic metals and non-conducting carrier materials.

DUALSCOPE FMP40涂镀层测厚仪采用了磁感应和电涡流两种方法。
磁感应方法：
通过探头的激励电流产生一个低频磁场区域，该磁场的强度取决于涂镀层厚度并经磁性基材放大。测量线圈捕获这个放大信号，然后通过储存在仪器内的探头特征曲线将信号转换为涂镀层厚度。
应用：锌、铬、铜等电镀层或涂覆或喷溅上去的非磁性镀层或油漆、塑料等涂层在钢和铁上。
电涡流方法：
通过探头的激励电流产生一个高频初级磁场区域，该磁场在基材内产生感生电涡流，次级磁场区域削弱初级磁场区域，削弱影响相当于探头和基材之间的距离即涂镀层的厚度，然后通过储存在仪器内的探头特征曲线将削弱影响转换为涂镀层厚度值显示出来。