菲希尔DualScope MP0技术规格的详细资料：

菲希尔DualScope MP0技术规格

技术规格：

量 程：0～2000μm。
精 度：±1μm（0～50μm）；±2%（50μm～1000μm）；±3%（1000μm～2000μm）。
重复精度： ±0.5μm（0～100μm）； ±0.5%（＞100μm）。
zui小测量曲率直径：在精度范围内，铁基φ35mm，非铁基φ50mm；
（在允许误差＜10%时，铁基为φ10mm，非铁基为φ2mm）。
zui小测量面积直径：φ4mm（在允许误差＜10%时，为φ2mm）。
zui小基体厚度：铁基0.2mm（误差＜10%时）；非铁基0.09mm（误差＜10%时）。
重 量：60g（不含电池）。
外形尺寸：64mm×30m×85mm。
电 源：两节5号电池。

标准配置：

主机一台；铁、铝基体各一块；标准片一套；手提仪器盒；挂链；两节5号电池；操作手册；出厂合格证书。

1、校正 
按下，屏幕“校正”位置相对应的按钮。 
请注意需要使用未镀过的底材，而且底材的形状和材质必须和被测量的工件*。 
（1）正常化（仪器归零）→ 按OK键进入→ 按屏幕提示测量底材（基材）3-5次→按OK键确认→屏幕显示“正
常完成成功”，再次按OK键完成。 
（2）校正→按屏幕提示测量底材（基材）3-5次，不建议按屏幕中的“跳过”键跳过→按OK键确认→把标准片
放在前面的基材上，测量标准片 3-5 次→按“设置”键→进入设置界面后按↑↓键调整数值直到和标准片相同→按
“OK”键确定→以上步骤确认无误后再按“OK”键至第二片标准片→校正步骤同*片→按“OK”确认。 
（仪器只附带一片标准片，第二片时可以直接跳过；如客户有多块标准片，校正时请按从薄到厚的顺序进行校正。） 
（3）简易校准→在基材上测量200um以上的标准片3-5次左右，并设置相应数值→按“OK”键完成。（此功能
只适合200um以上的涂镀层使用） 
（4）删除校正 

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