DualScope FMP20涂层测厚仪二合一机型的详细资料：

DualScope FMP20涂层测厚仪二合一机型

Dualscope®FMP20：
由于自动基板材料识别和两种测量方法的结合，该通用仪器能够测量铁/钢和非铁磁金属以及非导电材料上的许多涂层。根据您的测量应用，您可以根据磁感应法（Deltascope®FMP10），涡流法（Isoscope®FMP10）或根据两种方法组合在一台仪器（Dualscope®FMP20）中进行的涂层厚度测量。

DualScope FMP20涂层测厚仪二合一机型符合：ISO 2178,2360,2808; EN ISO 19840; ASTM B499; D1186，D1400，D7091，E376，G12;SSPC-PA2;BS3900-C5; BS EN ISO 1461; IMO PSPC

特征：

适用于所有磁感应和涡流探头

自动探头识别
自动基材识别（FMP 20）
用户友好的仪器操作
用于数据传输到PC的USB端口
大，显示与240x160像素丰富的对比
准备在上电后进行测量
探头放置时自动测量采集
内存多达1000个读数
测量采集时的声音信号
共同特征值的统计显示，如平均值，标准差，zui小值，
zui大，范围
通过ZERO键通过归一化，轻松适应样品的形状
对于强大的形状差异，使用一个或两个校准箔进行额外的校正校准
在材料和几何特性的情况下，特性设置的主校准
将主校准存储在连接的探头中的能力
测量单位可以在μm和mil之间切换
可调节仪器关闭或连续操作
显示各种状态（例如，当电池电压下降时的警告信息）
可锁定键盘/限制操作模式
机械滑块覆盖测量操作不需要的键
各种语言设置

磁感应法
其强度取决于涂层厚度，并被磁性基材扩大。 捕获该放大的测量线圈的信号通过存储在仪器中的探针特性转换成涂层厚度读数。

涡流法

探头的激励电流使得能够在基材中引起涡流的高频初级磁场。 其二次磁场削弱了主场。 这种弱化效应对应于探头和基材之间的距离（=涂层厚度），并通过存储在仪器中的探头特性转换成涂层厚度读数。