PhaScope PMP10测厚仪非接触式测量的详细资料：

PhaScope PMP10测厚仪非接触式测量

涡流相位法原理：
励磁电流产生高频磁场，该磁场在材料（镀层或基材）中感生涡流。
应用镀层材料和底层材料中涡流的形态不同进行镀层厚度测量。
利用对材料电导率的函数关系，可以测量导电性。
励磁电流与测量信号之间的相位改变量 φ 转变成镀层厚度值，或各自的电导率值。
在由探头决定的一定范围内，读数与探头和镀层表面的距离无关－非接触测量

使用针对特定测量任务进行了优化的探针，PHASCOPE®PMP10特别适用于以下几种：

1. 测量钢上镍的镀层厚度
2. 测量钢上的锌或铜 - 尽管表面粗糙，表面几何复杂
3. 测量有色金属上有色金属的厚度，给出足够的导电性差异，例如 黄铜或青铜上的铜
4. 测量绝缘基板上有色金属的厚度，如电路板上的铜层。

探头选择

特点：

• 手持式仪器，根据相位敏感电涡流法快速、准确地测量镀层厚度，符合 DIN EN ISO 21968 标准
• 可测量印刷电路板上的铜厚度（频率为60 kHz 或 240 kHz 的探头 ESD20Cu）
• 可测量印刷电路板中孔铜厚度（探头 ESL080）
• 可测量铁、非铁金属或非导电部件上金属涂层的厚度
• 提供的电脑软件FISCHER DataCenter®具有以下功能：传输和保存测量值，全面的统计和图形化评估，简便生成并打印个人检测报告

典型应用领域：

• 测量钢铁上的锌、铜或铝镀层（适合粗糙表面的探头ESD20Zn）
• 钢制小部件上的锌镀层（用于较小测量面积的探头 ESD2.4）
• 钢铁上的电镀镍层（探头ESD20Ni，频率 60 KHz 或 240 kHz)
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