PhaScope PMP10测厚仪非接触式测量
励磁电流产生高频磁场，该磁场在材料（镀层或基材）中感生涡流。
应用镀层材料和底层材料中涡流的形态不同进行镀层厚度测量。
利用对材料电导率的函数关系，可以测量导电性。
励磁电流与测量信号之间的相位改变量 φ 转变成镀层厚度值，或各自的电导率值。
在由探头决定的一定范围内，读数与探头和镀层表面的距离无关－非接触测量

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厂商性质：代理商
更新时间：2025-09-06
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PhaScope PMP10测厚仪非接触式测量

涡流相位法原理：
励磁电流产生高频磁场，该磁场在材料（镀层或基材）中感生涡流。
应用镀层材料和底层材料中涡流的形态不同进行镀层厚度测量。
利用对材料电导率的函数关系，可以测量导电性。
励磁电流与测量信号之间的相位改变量 φ 转变成镀层厚度值，或各自的电导率值。
在由探头决定的一定范围内，读数与探头和镀层表面的距离无关－非接触测量

使用针对特定测量任务进行了优化的探针，PHASCOPE®PMP10特别适用于以下几种：

测量钢上镍的镀层厚度
测量钢上的锌或铜 - 尽管表面粗糙，表面几何复杂
测量有色金属上有色金属的厚度，给出足够的导电性差异，例如黄铜或青铜上的铜
测量绝缘基板上有色金属的厚度，如电路板上的铜层。

探头选择

探头型号	量程	应用
ESL080B	5-100 um	测量PCB通孔直径范围0.8–2mm的铜的厚度
ESL080V	5-100 um	测量PCB通孔直径上铜的厚度，尤其是厚的PC板
ESD20Cu	1 -270 um	测量PC板上铜的厚度
ESD20Zn	1-200 um (Cu/Fe) 2-200 um (Zn/Fe	低导电率基体上的高导电率涂层，如铜/黄铜低导电率基体上的高导电率涂层，如铜/黄铜
ESD20Ni	2-100 um Ni/Fe (60 kHz) Or 1-50 um Ni/Fe (240 kHz)	粗糙表面或保护漆表面，铁或铁磁钢上镍层的测量。
ESD2.4	1-150 um	低导电率基体上的高导电率涂层，如铜/黄铜。特别适用于小型传感器上的零部件

特点：

手持式仪器，根据相位敏感电涡流法快速、准确地测量镀层厚度，符合 DIN EN ISO 21968 标准
可测量印刷电路板上的铜厚度（频率为60 kHz 或 240 kHz 的探头 ESD20Cu）
可测量印刷电路板中孔铜厚度（探头 ESL080）
可测量铁、非铁金属或非导电部件上金属涂层的厚度
提供的电脑软件FISCHER DataCenter®具有以下功能：传输和保存测量值，全面的统计和图形化评估，简便生成并打印个人检测报告

典型应用领域：

测量钢铁上的锌、铜或铝镀层（适合粗糙表面的探头ESD20Zn）
钢制小部件上的锌镀层（用于较小测量面积的探头 ESD2.4）
钢铁上的电镀镍层（探头ESD20Ni，频率 60 KHz 或 240 kHz)

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