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菲希尔镀层测厚仪XDL240

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  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2025-09-08
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产品详情

菲希尔镀层测厚仪XDL240

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 型仪器在 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型仪器基础上发展而来。

菲希尔金属镀层测厚仪FISCHER代理

菲希尔X射线测厚仪FISCHER代理核心功能

与上一代相似,适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,可全自动检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。仪器采用基本参数法,无需标准片,即可对镀层系统、固体和液体样品进行测量与分析,测量范围涵盖元素氯(17)到铀(92),适用于质量控制、进料检验和生产流程监控。

典型应用领域

  • 测量大规模生产的电镀部件

  • 测量超薄镀层,如装饰铬

  • 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

  • 全自动测量印刷线路板

  • 分析电镀溶液

菲希尔镀层测厚仪XDL240

菲希尔X射线测厚仪FISCHER代理产品型号及配置

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 为界面友好的台式测量仪器系列,根据不同用途分为多种版本:

  • XDL 210 型:固定式工作台,固定位置的 Z 轴系统

  • XDL 220 型:固定式工作台,马达驱动的 Z 轴系统

  • XDL 230 型:配备可手动操控的 X/Y 工作台,马达驱动的 Z 轴升降系统

  • XDL 240 型:配备马达驱动的 X/Y 工作台,保护门开启时自动移至样品放置位;搭配马达驱动的可编程 Z 轴升降系统

此外,XDL 系列仪器可选配圆形或长方形准直器,采用比例接收器,测量距离 0 - 80mm,使用保护的 DCM 测量距离补偿法。

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