菲希尔镀层测厚仪XDL240的详细资料：

菲希尔镀层测厚仪XDL240

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 型仪器在 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型仪器基础上发展而来。

菲希尔金属镀层测厚仪FISCHER代理

菲希尔X射线测厚仪FISCHER代理核心功能

与上一代相似，适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，可全自动检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。仪器采用基本参数法，无需标准片，即可对镀层系统、固体和液体样品进行测量与分析，测量范围涵盖元素氯（17）到铀（92），适用于质量控制、进料检验和生产流程监控。

典型应用领域

• 测量大规模生产的电镀部件

• 测量超薄镀层，如装饰铬

• 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

• 全自动测量印刷线路板

• 分析电镀溶液

菲希尔X射线测厚仪FISCHER代理产品型号及配置

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 为界面友好的台式测量仪器系列，根据不同用途分为多种版本：

• XDL 210 型：固定式工作台，固定位置的 Z 轴系统

• XDL 220 型：固定式工作台，马达驱动的 Z 轴系统

• XDL 230 型：配备可手动操控的 X/Y 工作台，马达驱动的 Z 轴升降系统

• XDL 240 型：配备马达驱动的 X/Y 工作台，保护门开启时自动移至样品放置位；搭配马达驱动的可编程 Z 轴升降系统

此外，XDL 系列仪器可选配圆形或长方形准直器，采用比例接收器，测量距离 0 - 80mm，使用保护的 DCM 测量距离补偿法。