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Couloscope CMS2 STEP电位差测厚仪上海代理

Couloscope CMS2 STEP电位差测厚仪上海代理

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Couloscope CMS2 STEP电位差测厚仪上海代理
COULOSCOPE CMS STEP 双层镍镀层测量版本
Couloscope CMS2 STEP 电解测厚仪
4种不同类型的测量台适合于测量各种种类的被测物体。
Couloscope CMS2 STEP 库仑测电位差测厚仪

Couloscope CMS2 STEP电位差测厚仪上海代理的详细资料:

Couloscope CMS2 STEP电位差测厚仪上海代理

 

广泛应用的标准支架V18和专用支架V27用于测量导线上涂层的厚度

COULOSCOPE CMS STEP 双层镍镀层测量版本
Couloscope CMS2 STEP 电解测厚仪
4种不同类型的测量台适合于测量各种种类的被测物体。

Couloscope CMS2 STEP 库仑测电位差测厚仪

PCB涂层厚度测量设计用于测量任何金属涂层的厚度,如任何基材上的多层。 该器件通过阳极溶解(DIN EN ISO 2177)根据库仑法进行工作。 易于操作和菜单支持的操作员方向使得该设备非常适用于电镀领域的生产监控和端部检测。
该机器具有近100种预定义的应用,用于测量不同的涂层系统(例如铁上的锌,黄铜上的镍)和去镀速度(例如1,2,5和10m / min)。 这也可以组合起来用于测试多层系统。
强大和用户友好的PCB涂层厚度测量计是生产监控和进入检测的理想选择。

典型应用:
电镀紧固件
测试印刷电路板上残留的纯锡含量
镀铬浴室配件
测量常见的单相以及双相涂层,如铁上的ZN或铜上的SN / NI
金属涂层的测量厚度品种为0.05 - 50m,不需要预先设置几种材料; 基底组成以及几何形状也与测量过程无关
测量印刷电路板上纯锡的剩余部分,以确保可焊性
多层涂层,如铁/塑料(abs)基板上的CR / NI / CU

 

Couloscope CMS2 STEP电位差测厚仪上海代理

使用5 x 5个单独测量的测试区域校准测量系统的标准

作为测量镀层厚度zui简单的方法之一,库仑法可以用于 各种镀层组合。 尤其对于多镀层结构, 当允许破坏性测 量时,它提供了一个比 X 射线更经济的替代方法。 

很多常见的单、双镀层例如铁镀锌或者铜镀镍镀锡都可 以用 CMS2 简单快速地测量。这个方法为任何金属镀层 提供了的测量。在厚度范围 0.05 - 50 μm 内, 很多 材料不需要预设定;基材组成和几何形状对于测量都 是无关紧要的。 
 
zui常见的应用之一就是测量线路板上剩余的纯锡,以确 保可焊性。多镀层例如 Cr/ Ni/Cu 在铁或者塑料(ABS) 基材上,经常被用于高品质的浴室用品,也可以用这个 方法进行测量


COULOSCOPE CMS基本配置:
仪器:            Couloscope CMS
测量台:          V24、V26、V18 等
电解液:          F1 ~ F22
COULOSCOPE CMS特征:
标准:DIN EN ISO 2177 ; ASTM B504

模拟输出: 0 ~ -18V
输入阻抗: > 2 KΩ
工作温度: 10 ℃ ~ 40 ℃
仪器重量: 6 kg 
电源: AC 220 V ,50-60 Hz;zui大功耗 ≤ 85 VA
尺寸: 350W * 140H * 200D  mm

 


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