FISCHERSCOPE进口菲希尔X射线镀层分析仪XDL 210的详细资料:
品牌 | Helmut Fischer/德国菲希尔 | 价格区间 | 面议 |
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应用领域 | 电子,交通,冶金,航天,汽车 |
菲希尔x-ray射线镀层测厚仪简介:
FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL®是一款应用广泛的能量色散型x 射线光谱仪。它是从大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型仪器上发展而来的。与上一代相类似,它尤其适合无损测量镀层厚度及材料分析,同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板。比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。由于采用了Fischer 基本参数法,无论是镀层系统还是固体和液体样品,都能在没有标准片的情况下进行分析和测量。zui多可同时测量从氯(17)到铀(92)中的24 种元素。
XDL 型X 射线光谱仪有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器。XDL 系列仪器特别适用于客户经行质量控制、进料检验和生产流程监控。X射线荧光光谱仪,用于对保护和装饰涂料,量产的零件和印制板上的涂层进行手动或自动厚度测量。菲希尔荧光镀层分析仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210适合镀层厚度测量的耐用仪器,即使大测量距离也可以测量(DCM,范围0-80mm)。配备一个固定的准直器和固定的滤片。适合测量点在1mm以上的应用;跟XUL类似。可选用自动测量的可编程工作台.
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荧光镀层分析仪XDL 210特征:
- 带玻璃窗口和钨靶的X射线管或带铍窗口和钨靶的微聚焦X射线管。Z高工作条件:50KV,50W
- X射线探测器采用比例接收器
- 准直器:固定或4个自动切换,0.05 x0.05 mm 到 Ø 0.3 mm
- 基本滤片:固定或3个自动切换
- 测量距离可在0-80 mm范围内调整
- 固定样品支撑台 ,手动XY工作台
- 摄像头用来查看基本射线轴向方向的测量位置。刻度线经过校准,显示实际测量点大小。
- 设计获得许可,防护全面,符合德国X射线条例第4章第3节
典型应用领域:
- 大批量电镀件测量
- 防腐和装饰性镀层,如镍或铜上镀铬
- 电镀行业槽液分析
- 线路板行业如薄金,铂和镍镀层的策略
- 测量接插件和触点的镀层
- 电子和半导体行业的功能性镀层测量
- 黄金,珠宝和手表行业
菲希尔x-ray射线镀层测厚仪设计理念:
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 设计为界面友好的台式测量仪器系列。我们会根据样品平台的运行模式以及固定或者可调节的Z 轴系统来设定不同型号的仪器以满足实际应用的需求。XDL210:平面样品平台,固定的Z 轴系统
高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能,可以定位测量位置。通过视频窗口,还可以实时观察测量过程和进度。配有马达驱动X-Y 样品平台的仪器还配备了激光点,可以辅助定位并快速对准测量位置。测量箱底部的开槽专为大而扁平的样品设计,可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如大型的线路板。所有的操作,测量数据的计算,以及测量数据报表的清晰显示都是通过强大而界面友好的WinFTM®软件在电脑上完成的。
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