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X-RAY XDL210荧光测厚仪

X-RAY XDL210荧光测厚仪

更新时间:2020-10-12
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X-RAY XDL210荧光测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210 是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。

X-RAY XDL210荧光测厚仪的详细资料:

品牌Fischer/德国菲希尔价格区间面议
产地类别进口应用领域电子,交通,冶金,航天,汽车

X-RAY XDL210荧光测厚仪

X-RAY XDL210荧光测厚仪

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210 是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。

 典型的应用领域有:
• 测量大规模生产的电镀部件
• 测量超薄镀层,例如:装饰铬
• 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
• 测量印刷线路板
• 分析电镀溶液

 

通用规格

设计用途

能量色散X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪 (EDXRF), 用于测定超薄镀层和溶液分析

元素范围

从元素(17) 到 铀(92)配有可选的WinFTM®BASIC软件时,最多可同时测定 24 种元素

设计理念

台式仪器,测量门向上开启

测量方向

由上往下

X 射线源

X 射线管

带铍窗口的钨管

高压三档: 30 kV40 kV50 kV

孔径(准直器)

Ø 0.3 mm 可选:Ø 0.1 mmØ 0.2 mm;长方形 0.3 mm x 0.05 mm

测量点尺寸

取决于测量距离及使用的准直器大小,

实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致

最小的测量点大小约 Ø 0.2mm

X 射线探测

X 射线接收器

测量距离

比例接收器

0 ~ 80 mm,使用保护的 DCM 测量距离补偿法

样品定位

视频系统

高分辨率CCD彩色摄像头,沿着初级X射线光束方向观察测量位置

手动聚焦,对被测位置进行监控

十字线(带有经过校准的刻度和测量点尺寸)

可调节亮度的LED照明,激光光点用于定位样品

放大倍数

40x – 160x

电气参数

电源要求

220 V 50 Hz

功率

最大 120 W (不包括计算机)

保护等级

IP40

尺寸规格

外部尺寸

××[mm]570×760×650

内部测量室尺寸

××[mm]460×495x(参考“样品最大高度部分的说明)

重量

94 kg

 


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