X-RAY台式测厚仪XDL / XDLM / XDAL
XDL / XDLM / XDAL
凭借电机驱动（可选）与自上而下的测量方向，XDL® 系列测量仪器能够进行自动化的批量测试。提供 X 射线源、滤波器、准直器以及探测器不同组合的多种型号，从而能够根据不同的测量需求选择适合的 X 射线仪器

产品型号：
厂商性质：代理商
更新时间：2025-09-09
访问量：4957

联系电话：021-58951091

X-RAY台式测厚仪XDL / XDLM / XDAL

特性：

X 射线荧光仪器可配备多种硬件组合，可完成各种测量任务
由于测量距离可以调节（大可达 80 mm），适用于测试已布元器件的电路板或腔体结构的部件
通过可编程 XY 工作台与 Z 轴（可选）实现自动化的批量测试
使用具有高能量分辨率的硅漂移探测器，非常适用于测量超薄镀层（XDAL 设备）

应用：

镀层厚度测量

大型电路板与柔性电路板上的镀层测量
电路板上较薄的导电层和/或隔离层
复杂几何形状产品上的镀层
铬镀层，如经过装饰性镀铬处理的塑料制品
氮化铬 (CrN)、氮化钛 (TiN) 或氮碳化钛 (TiCN) 等硬质涂层厚度测量

材料分析

电镀槽液分析
电子和半导体行业中的功能性镀层分析

公司由Helmut Fischer 博士于1953 年成立，自2008 年起由德国辛德芬根和瑞士休伦堡的 Helmut Fischer 基金会共同拥有。HELMUT FISCHER Holding AG 涂镀层测厚、材料分析、微硬度测试和材料测试领域可以为您提供比较良好的解决方案。

Helmut Fischer主要产品：Helmut Fischer测试样片、Helmut Fischer涂层测厚仪、Helmut Fischer X射线荧光测量仪、Helmut Fischer微硬度测试仪、Helmut Fischer铁素体仪、Helmut Fischer氧化膜密闭性测试仪、Helmut Fischer电导率测试仪等。

在线咨询

上一篇：德国Fischer膜厚仪价格区间
下一篇：MiniTest725 /735/745便携式测厚仪用户资料

特性：

应用：

镀层厚度测量

材料分析

留言框

产品：

您的单位：

您的姓名：

联系电话：

常用邮箱：

省份：

详细地址：

补充说明：

验证码：