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X-RAY台式测厚仪XDL / XDLM / XDAL的详细资料:
品牌 | Helmut Fischer/德国菲希尔 | 价格区间 | 面议 |
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产地类别 | 进口 | 应用领域 | 电子,交通,冶金,航天,汽车 |
X-RAY台式测厚仪XDL / XDLM / XDAL
X-RAY台式测厚仪XDL / XDLM / XDAL
特性:
- X 射线荧光仪器可配备多种硬件组合,可完成各种测量任务
- 由于测量距离可以调节(大可达 80 mm),适用于测试已布元器件的电路板或腔体结构的部件
- 通过可编程 XY 工作台与 Z 轴(可选)实现自动化的批量测试
- 使用具有高能量分辨率的硅漂移探测器,非常适用于测量超薄镀层(XDAL 设备)
应用:
镀层厚度测量
- 大型电路板与柔性电路板上的镀层测量
- 电路板上较薄的导电层和/或隔离层
- 复杂几何形状产品上的镀层
- 铬镀层,如经过装饰性镀铬处理的塑料制品
- 氮化铬 (CrN)、氮化钛 (TiN) 或氮碳化钛 (TiCN) 等硬质涂层厚度测量
材料分析
- 电镀槽液分析
- 电子和半导体行业中的功能性镀层分析
公司由Helmut Fischer 博士于1953 年成立,自2008 年起由德国辛德芬根和瑞士休伦堡的 Helmut Fischer 基金会共同拥有。HELMUT FISCHER Holding AG 涂镀层测厚、材料分析、微硬度测试和材料测试领域可以为您提供比较良好的解决方案。
Helmut Fischer主要产品:Helmut Fischer测试样片、Helmut Fischer涂层测厚仪、Helmut Fischer X射线荧光测量仪、Helmut Fischer微硬度测试仪、Helmut Fischer铁素体仪、Helmut Fischer氧化膜密闭性测试仪、Helmut Fischer电导率测试仪等。
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