FISCHERSCOPE XDAL237 x射线镀层测厚仪 来自德国菲希尔的X射线荧光测量仪，带有快速可编程的XY平台和Z轴，可自动测量薄涂层厚度和进行材料分析。 FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型仪器可以用来测量SnPb焊层中的铅含量。

菲希尔XDLM-pcb200代理 测量印制电路板上镀层厚度及成分分析的入门级、耐用型测量仪。用于测量和分析印刷电路板上的涂层厚度和成分的X射线荧光测量仪器。FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB仪器是专门用于测量和分析印刷电路板上的涂层厚度和成分的坚固耐用的入门级仪器

菲希尔xulm-240 对于FISCHERSCOPE®X-RAYXUL和XULM系列来说，X射线源和接收器位于测量室的下方，这样可以快速方便地定位样品。除此以外，视频窗口也可以辅助定位，仪器前方的大控制台简化了操作

菲希尔 X-RAY 能量散射X射线荧光光谱法（EDXRF）作为镀层厚度测量和材料分析的方法，可用来定量和定性分析样品的元素组成，也可用于镀层和镀层系统的厚度测量。

菲希尔X-RAY XDV-µ SEMI全自动荧光分析仪 FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ SEMI 是一款全自动测量系统。针对半导体行业复杂的 2.5D/3D 封装应用中的微结构质量控制进行了优化。全自动分析可避免损坏宝贵的晶圆材料。