菲希尔测厚仪Probe FAI 3.3-150筷子探头

更新时间：	2024-09-22
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菲希尔测厚仪Probe FAI 3.3-150筷子探头：任何一个电磁测量系统的核心都会是探头，其信号质量Z终决定了计量方案的整体测量质量。进过多年的研发和创新，FISCHER现在拥有超过100种探头，可以在各种测量任务中实现具有Z高。

Probe FAI 3.3-150菲希尔测厚仪Probe FAI 3.3-150筷子探头的详细资料：

品牌	Helmut Fischer/德国菲希尔	价格区间	面议
应用领域	电子/电池,道路/轨道/船舶,钢铁/金属,航空航天,汽车及零部件

菲希尔测厚仪Probe FAI 3.3-150筷子探头

任何一个电磁测量系统的核心都会是探头，其信号质量zui终决定了计量方案的整体测量质量。进过多年的研发和创新，FISCHER现在拥有超过100种探头，可以在各种测量任务中实现具有zui高。

菲希尔测厚仪Probe FAI 3.3-150筷子探头适合测量孔洞、管子、细槽（直径需要大于等于9毫米）内的涂镀层厚度测量。

一次测量的质量，主要由几个关键因素决定。包括：选择适当的探头和探头本身的质量等。Helmut FischerGmbH为您提供种类繁多而又品质的高精度探头，所有探头都是按照zui高的品质要求自行开发和生产。

镀层/底材的种类是选择探头zui重要的依据。另外，镀层的大致厚度、底材的材料、测量点的面积以及样品的形状和表面情况都是选择探头时需要考虑的因素。曲率补偿探头（涡流法）适用于不同曲面的样品；双触点探头能够在粗糙的表面上得到的结果。FMP10、FMP20、FMP30、FMP40型仪器都可以通过连接不同的探头来满足您不同的测量需求。

下面的图表显示了选择探头的标准流程。我们的探头库中拥有超过100种适合不同应用的探头，除此之
外，Helmut Fischer GmbH还能为您的应用特别定制探头。