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FISCHER代理 X射线测厚仪XULM240产品信息

更新时间:2026-01-22      浏览次数:494

菲希尔测厚仪 XULM240核心优势与特点

微型结构测量能力:微聚焦 X 射线管 + 自动切换准直器,可精准测量半导体芯片金线镀层、精密传感器电极、连接器触点等微型结构,最小测量点仅 0.1mm

灵活适配性:电动可变孔径和初级过滤器,可针对不同测量任务创建测量条件;多达四种可变功率设置

高效测量:比例接收器实现高计数率,缩短测量时间,提高检测效率

大样品室设计:尽管仪器紧凑,但提供高达 17cm 的样品高度空间,可测量从微小零件到较大部件的各类样品

智能软件支持:WinFTM® 软件提供直观操作界面、自动校准、数据统计分析、自定义报告等功能,简化工作流程

安全可靠:获得型式批准的防护设备,确保操作安全


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