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Fischer进口DualScope FMP40测厚仪：通过探头的激励电流产生一个低频磁场区域，该磁场的强度取决于涂镀层厚度并经磁性基材放大。测量线圈捕获这个放大信号，然后通过储存在仪器内的探头特征曲线将信号转换为涂镀层厚度。
产品型号：厂商性质：代理商更新时间：2025-09-05访 问 量：1338
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Fischer进口DualScope FMP40测厚仪
基本参数
测量范围： | 0-2000um mm |
|---|---|
计量单位： | 台 |
类型： | 涂层测厚仪 |
显示方式： | 显示屏 |
品牌： | Fischer/菲希尔 |
型号： | DualScope FMP40 |
加工定制： | 否 |
菲希尔DUALSCOPE FMP40测厚仪膜厚仪 能够自动识别底材材料并且集成了两种测量方法，使这个系列的仪器可以测量钢材和铁材亦或是非铁磁基材上的大部分涂镀层的厚度。 菲希尔DUALSCOPE FMP40测厚仪膜厚仪由于集合了两种测量方法，这个系列的仪器还能够在一次测量过程中同时测得两层涂镀层的厚度（油漆层/锌层），并且分别显示出来。
菲希尔DUALSCOPE FMP40测厚仪膜厚仪采用了磁感应和电涡流两种方法。
菲希尔DUALSCOPE FMP40测厚仪膜厚仪采用的磁感应方法：
菲希尔DUALSCOPE FMP40测厚仪膜厚仪通过探头的激励电流产生一个低频磁场区域，该磁场的强度取决于涂镀层厚度并经磁性基材放大。 菲希尔DUALSCOPE FMP40测厚仪膜厚仪探头测量线圈捕获这个放大信号，然后通过储存在仪器内的探头特征曲线将信号转换为涂镀层厚度。
应用：锌、铬、铜等电镀层或涂覆或喷溅上去的非磁性镀层或油漆、塑料等涂层在钢和铁上。
菲希尔DUALSCOPE FMP40测厚仪膜厚仪采用的电涡流方法：
菲希尔DUALSCOPE FMP40测厚仪膜厚仪通过探头的激励电流产生一个高频初级磁场区域，该磁场在基材内产生感生电涡流，次级磁场区域削弱初级磁场区域，削弱影响相当于探头和基材之间的距离即涂镀层的厚度，然后通过储存在仪器内的探头特征曲线将削弱影响转换为涂镀层厚度值显示出来。
Fischer进口DualScope FMP40测厚仪
菲希尔DUALSCOPE FMP40测厚仪膜厚仪This universal instrument can be used to measure numerous coatings both on iron/steel and on non-ferromagnetic metals and non-conducting carrier materials.
自动识别底材
DUALSCOPE FMP40测厚仪膜厚仪能够通过外部触发测量（例如：测量直径很小的空心圆柱体的内壁）
使用未知材料的镀层进行校准（仅限于磁感应法）
菲希尔DUALSCOPE FMP40测厚仪膜厚仪配备 USB接口可以连接计算机和打印机
膜厚仪能够手动纠正已储存的读数
膜厚仪包含应用程式关联功能：多个应用程式能使用相同的归一化/校准信息
通过电脑计算机可以编辑应用程式名称（可选件：MP-Name软件）
拥有数据组统计值和所有数据统计值
菲希尔DUALSCOPE FMP40测厚仪膜厚仪能够展现测量数据直方图显示
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