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DualScope FMP40校准步骤

DualScope FMP40校准步骤

更新时间：2017-03-09
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DualScope FMP40校准步骤:校准是使用标准片和底材对仪器进行调校，使测量结果准确的方法。

DualScope FMP40校准步骤的详细资料：

品牌Helmut Fischer/德国菲希尔

DualScope FMP40校准步骤

 

操作方法   
 
测量过程中始终握住探头袖部（grip sleeve） z 测量中保持垂直，稳定，恒力地将探头接触到被测工件表面，默认情况下，随后仪器会发出“滴” 声，并且在屏幕上显示出读数 z 提起探头，测量下一个读数 

注：避免硬碰撞探头不要在工件上方徘徊，这样做会产生错误读数 

 

校准  

校准是使用标准片和底材对仪器进行调校，使测量结果准确的方法。 

 
按 CAL 键 
『S』：标准偏差 『n』：测量次数 『Base material(Fe/NF)』:测量底材是钢铁等磁性金属还是非铁金属。 
在底材上测量 4-5 次。 按 ENTER 键 
『CAL-rat.1:23.70』: 在此将标准片上的标称值通过∧、∨键输入主机。 『ENTER: ∧∨』：在测量玩标准片后按∧或∨键来输入标准值。 
在底材上放置标准片 1（箔 1）→进行几次测量 如果做 2 点校准，则标准片由薄到厚 按 ∧,∨ 设置箔片厚度→ENTER(一直按住数字会快速跳动) 按 2 次 ENTER，完成调校。 
 
 


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