DualScope FMP40校准步骤:校准是使用标准片和底材对仪器进行调校，使测量结果准确的方法。

产品型号：
厂商性质：代理商
更新时间：2025-09-05
访问量：2052

联系电话：021-58951091

DualScope FMP40校准步骤

操作方法

测量过程中始终握住探头袖部（grip sleeve） z 测量中保持垂直，稳定，恒力地将探头接触到被测工件表面，默认情况下，随后仪器会发出“滴” 声，并且在屏幕上显示出读数 z 提起探头，测量下一个读数

注：避免硬碰撞探头不要在工件上方徘徊，这样做会产生错误读数

校准

校准是使用标准片和底材对仪器进行调校，使测量结果准确的方法。

按 CAL 键
『S』：标准偏差『n』：测量次数『Base material(Fe/NF)』:测量底材是钢铁等磁性金属还是非铁金属。
在底材上测量 4-5 次。按 ENTER 键
『CAL-rat.1:23.70』: 在此将标准片上的标称值通过∧、∨键输入主机。『ENTER: ∧∨』：在测量玩标准片后按∧或∨键来输入标准值。
在底材上放置标准片 1（箔 1）→进行几次测量如果做 2 点校准，则标准片由薄到厚按 ∧,∨ 设置箔片厚度→ENTER(一直按住数字会快速跳动) 按 2 次 ENTER，完成调校。

在线咨询

上一篇：DualScope MP0便携式测厚仪操作手册
下一篇：FMP10、FMP20测厚仪使用手册

DualScope FMP40校准步骤:校准是使用标准片和底材对仪器进行调校，使测量结果准确的方法。

DualScope FMP40校准步骤

留言框

产品：

您的单位：

您的姓名：

联系电话：

常用邮箱：

省份：

详细地址：

补充说明：

验证码：