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Fischer代理MP0基本型基本款测厚仪

Fischer代理MP0基本型基本款测厚仪

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Fischer代理MP0基本型基本款测厚仪:Fischer 的产品线涵盖了测量和分析仪器,广泛应用于各个工业领域。使用合适的测量方法,可以获得准确的测量结果以及Z佳的重复精度。
:笃挚仪器(上海)有限公司公司;地址:上海市浦东新区外高桥保税区华京路418号;:张磊;:;;:;

Fischer代理MP0基本型基本款测厚仪的详细资料:

Fischer代理MP0基本型基本款测厚仪

 

Fischer拥有众多的仪器能够满足不同消费者的不同需求。无论是手持便携式的机器,亦或是台式X-RAY测厚仪,都能准确无误的测量出金属表面涂层的厚度。

我司是Fischer中国区代理,全权负责Fischer中国大陆的销售、技术支持。

 

测量涂镀层厚度

无论是喷涂还是电镀,无论被测材料有无铁磁性——在我们众多产品中,您总能找到可测量镀层厚度的仪器.

1.电磁测量法: 袖珍式仪器, 手持式仪器, 台式仪器, 各种探头

2.X 射线荧光法

3.库仑法

4.β 背散射法

5.微电阻法

类型产品型号简介
袖珍式仪器DUALSCOPE MP0基于自动的基材识别功能和两种测量法的结合(磁感应/涡流,符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 标准),此通用型设备不仅可以对铁/钢上的多种涂层进行测量还可以对非铁金属上的涂层进行测量。
袖珍式仪器DUALSCOPE MP0R基于自动的基材识别功能和两种测量法的结合(磁感应/涡流,符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 标准),此通用型设备不仅可以对铁/钢上的多种涂层进行测量还可以对非铁金属上的涂层进行测量。
袖珍式仪器DUALSCOPE MP0R-FP基于自动的基材识别功能和两种测量法的结合(磁感应/涡流,符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 标准),此通用型设备不仅可以对铁/钢上的多种涂层进行测量还可以对非铁金属上的涂层进行测量
手持式仪器DELTASCOPE FMP10用于测量非铁磁性金属涂层,例如钢铁上的铬、铜、锌以及涂料、油漆、瓷漆或塑料涂层。 (采用磁感应法,符合DIN EN ISO 2178,ASTM D7091 标准) 
手持式仪器ISOSCOPE FMP10用于测量非铁磁性金属基材上的涂料、油漆或塑料涂层,铝上的阳极氧化膜和导电基材上的非导电涂层。 (采用电涡流法测量,符合DIN EN ISO 2360, ASTM D7091标准)
手持式仪器DUALSCOPE FMP20自动识别基材,将两种测量法相结合(磁感应/电涡流,符合DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360标准),此通用型设备不仅可以对钢铁上的多种涂层进行测量还可以对非铁金属和非导电基材上的涂层进行测量
手持式仪器DELTASCOPE FMP30用于测量非铁磁性金属涂层,例如钢铁上的铬、铜、锌以及涂料、油漆、瓷漆或塑料涂层。 (采用磁感应法,符合DIN EN ISO 2178,ASTM D7091标准)
手持式仪器ISOSCOPE FMP30用于测量非铁磁性金属基材上的涂料、油漆或塑料涂层,铝上的阳极氧化膜和导电基材上的非导电涂层。 (采用电涡流法测量,符合 DIN EN ISO 2360, ASTM D7091标准)
手持式仪器DUALSCOPE FMP40自动识别基材,将两种测量法相结合(磁感应/电涡流,符合DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360标准),此通用型设备不仅可以对钢铁上的多种涂层进行测量还可以对非铁金属和导电基材上的涂层进行测量。
手持式仪器DUALSCOPE FMP100自动识别基材,将两种测量法相结合(磁感应/电涡流,符合DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360标准),此通用型设备不仅可以对钢铁上的多种涂层进行测量还可以对非铁金属和非导电基材上的涂层进行测量。
手持式仪器DUALSCOPE FMP15O一台仪器具有三种测量方法(电涡流法、磁感应和霍尔效应)。 采用霍尔效应,扩展了可测量范围。 所有模块都根据 DIN EN ISO 2178、 ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 标准进行测量 
手持式仪器PHASCOPE PMP10手持式设备,用于非破坏性的测量多种基材上的,包括小型结构和粗糙表面上的导电涂层的厚度
手持式仪器PHASCOPE PMP10 DUPLEX可无损测量钢铁上双涂层(镀锌再镀漆)厚度的手持式仪器
台式仪器FISCHERSCOPE MMS PC2台式设备,用于通用的涂层厚度测量和材料测试,具有彩色触摸屏、可进行个性化配置并带有各种设备接口
β射线反向散射法BETASCOPEBETASCOPE作为台式仪器MMS和MMS PC2的测量模块,是根据β背散射法,由不同材料间的差异,来测量涂镀层厚度的,特别适用于测量较薄的有机涂层。
库伦法COULOSCOPE CMS台式仪器,使用库伦法测量几乎所有金属镀层厚度,无论基材是金属或非金属,无论镀层结构是单镀层还是多镀层。
库伦法COULOSCOPE CMS STEP测量法对多层涂镀层系统的电位差进行测量,以及用于金属或非金属基材上所有的金属涂镀层的库仑电量涂镀层厚度测量(单层或多层系统)

 


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