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FISCHER XDL230X射线荧光测厚仪信息

更新时间:2026-10-30      浏览次数:14

德国菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDL230是一款能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪,采用无损检测方式,可对镀层厚度、材料成分及电镀液进行快速精准分析,适用于进料检验、生产过程监控和成品质量把控。

仪器采用台式设计,配备手动XY工作台与马达驱动Z轴系统,XY移动范围95×150mm,样品台可用面积420×450mm,可承载20kg样品,最大样品高度140mm,测量箱底部开槽设计可容纳大型PCB板等扁平工件。搭载高分辨率CCD彩色摄像头,支持40x-160x放大,配合可调LED照明与激光定位辅助,可精准对准微小测量点。

核心采用菲希尔DCM测量距离补偿技术,在0-80mm距离范围内均可保持稳定精度,无需严格固定样品高度,应对不规则样品时优势明显。内置基本参数法(FP法),多数场景无需标准片即可直接测量,降低耗材与维护成本。搭载钨靶X射线管,高压支持30kV/40kV/50kV三档调节,元素检测范围覆盖氯(17)到铀(92),最多可同时分析24种元素及多层镀层结构,标配WinFTM专业软件,支持数据统计、CPK计算与报告生成。

广泛应用于电子半导体、电镀表面处理、汽车制造、航空航天、医疗器械及珠宝等行业,是镀层检测领域的成熟可靠选择。


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