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DualScope MP0袖珍测厚仪校准

DualScope MP0袖珍测厚仪校准：仅需简单的三步即可校准：测基材归零位、测标准片校准、调校准数值OK！

产品型号：
厂商性质：代理商
更新时间：2025-09-05
访问量：1459

联系电话：021-58951091

DualScope MP0袖珍测厚仪校准

一、零位校准 归一化

归一化用来对测量仪器进行调整。归一化需要未镀过的底材，而且底材的形状和物料必须和被测量的工件*。

说明：归一化会删除所有的内存数据。

归一化仪器 (前提: 仪器处于开启状态)

按 [CAL]键. 显示 "Base" (即 “未镀过的底材”).
在底材上测量五次左右
每次测量后，会显示当前的读数。
按两次[OK] 键.
屏幕显示 “Er17”，忽略它。
完成归一化程序。

二、校准

校准需要有下面几项东西：底材（形状和底材物料要与待测部件*）和一片标准片(仪器随机的75 µm左右标准片)。 说明：校准将删除内存中的所有读数。

校准仪器（前提：仪器必须打开）

按 [CAL]键。
显示 "Base" (即 “未镀过的底材”)
在底材上测量五次左右.
每次测量后，会显示当前的读数。
按 [OK]键.
显示 0.00 和 STD1 (即校准标准片 # 1).
把校准标准片放在底材上，并测量5次左右。
每次测量后，屏幕上会显示当前读数。
用 [5] 或 [6]键调整第4步的zui后一个数值至标准片的标称值，如“75 µm”。标准片的标称值注明在标准片上。
按 [OK]键。
完成校准程序. 仪器返回测量状态.

7 删除校准资料 / 恢复初始曲线

有时，如果经过校准后，仪器测量仍然不准确，则可以删除校准参数。如果先前的校准程序没有正确进行的话，就可能会发生这种情况。
在这种情况下，可以把特征曲线恢复到原始的出厂设定。

删除仪器的校准参数 （前提：仪器必须打开）

按[CAL]键. 屏幕上显示"Base" (即 “底材”) .
在底材上测量5次左右.
按[OK]键. 显示 “STD1" (即校准标准片 # 1) .
在底材上测量1次.
屏幕将显示0左右的读数.
用[5] 或 [6] 键将 STD1调整到 0.00 .
屏幕将显示 “0.00 STD1” .
按 [OK] 键。恢复到初始的特征曲线。
恢复完成。 仪器现在可以测量了。

1、校正
按下，屏幕“校正”位置相对应的按钮。
请注意需要使用未镀过的底材，而且底材的形状和材质必须和被测量的工件。
（1）正常化（仪器归零）→ 按OK键进入→ 按屏幕提示测量底材（基材）3-5次→按OK键确认→屏幕显示“正
常完成成功”，再次按OK键完成。
（2）校正→按屏幕提示测量底材（基材）3-5次，不建议按屏幕中的“跳过”键跳过→按OK键确认→把标准片
放在前面的基材上，测量标准片 3-5 次→按“设置”键→进入设置界面后按↑↓键调整数值直到和标准片相同→按
“OK”键确定→以上步骤确认无误后再按“OK”键至第二片标准片→校正步骤同片→按“OK”确认。
（仪器只附带一片标准片，第二片时可以直接跳过；如客户有多块标准片，校正时请按从薄到厚的顺序进行校正。）
（3）简易校准→在基材上测量200um以上的标准片3-5次左右，并设置相应数值→按“OK”键完成。（此功能
只适合200um以上的涂镀层使用）
（4）删除校正

10 仪器及附件的订货资料

项目 订货号

DUALSCOPE^Ò MP0 604-162

电池 MP0R 2x LR6.AA 1.5 V 603-534

挂带 MP0R 603-481

探头保护罩MP0R 603-582

塑料校准标准片 75 µm MP0R 603-479

Al-基材 MP0R 603-478

Fe-基材 MP0R 603-477

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DualScope MP0袖珍测厚仪校准：仅需简单的三步即可校准：测基材归零位、测标准片校准、调校准数值OK！

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