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MPO和MPOR涂层测厚仪数据信息
点击次数：58 更新时间：2025-06-25 打印本页面 返回
MPO 涂层测厚仪，集成磁性测厚仪（P-MP0D）和涡流测厚仪（I-MP0D）双功能，不仅在功能上表现优秀，其详细技术参数更彰显出专业的硬核实力，为精准测量提供坚实保障。
在核心测量能力上，MPO 涂层测厚仪的测量范围达 0-2000μm，覆盖多数工业场景需求。其最小测量曲率直径在精度范围内，铁基为 φ35mm，非铁基为 φ50mm；在允许误差＜10% 条件下，铁基可达 φ10mm，非铁基可达 φ2mm，能够适应不同形状工件的测量。最小基体厚度方面，铁基 0.2mm（误差小于 10% 时），非铁基 0.09mm（误差小于 10% 时） ，即使较薄的基体材料也能实现准确测量。
数据存储与处理能力同样出色，以 DUALSCOPE MP0R 为例，其可存储高达 10,000 个读数，且具备断电数据保存功能，即使没有电池也能保留存储器中的内容，方便数据的集中管理与后续分析。测量频率每分钟超过 70 次，高效快速的测量节奏，大幅提升工作效率。
在电源与便携性设计上，仪器通常使用两节 5 号电池（如 LR6，AA，1.5V），方便更换，保障长时间使用。以 DUALSCOPE MP0R 为例，其尺寸为宽度 64 毫米、深度 28 毫米、高度 85 毫米，重量（包括电池）仅 137 克，小巧轻便，便于携带至不同工作场所，满足多样化测量需求。
