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菲希尔FMP40测厚仪测量误差和重复精度的详细资料：
| 品牌 | Helmut Fischer/德国菲希尔 |
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菲希尔FMP40测厚仪测量误差和重复精度
- 自动识别底材
- DUALSCOPE FMP40测厚仪膜厚仪能够通过外部触发测量（例如：测量直径很小的空心圆柱体的内壁）
- 使用未知材料的镀层进行校准（仅限于磁感应法）
- 菲希尔DUALSCOPE FMP40测厚仪膜厚仪配备 USB接口可以连接计算机和打印机
- 膜厚仪能够手动纠正已储存的读数
- 膜厚仪包含应用程式关联功能：多个应用程式能使用相同的归一化/校准信息
- 通过电脑计算机可以编辑应用程式名称（可选件：MP-Name软件）
- 拥有数据组统计值和所有数据统计值
- 菲希尔DUALSCOPE FMP40测厚仪膜厚仪能够展现测量数据直方图显示
菲希尔DUALSCOPE FMP40测厚仪电涡流方法：
通过探头的激励电流产生一个高频初级磁场区域，该磁场在基材内产生感生电涡流，次级磁场区域削弱初级磁场区域，削弱影响相当于探头和基材之间的距离即涂镀层的厚度，然后通过储存在仪器内的探头特征曲线将削弱影响转换为涂镀层厚度值显示出来。
测量原理 | 磁性测厚法，能快速、无损伤、精颏地进行铁磁性金属基体上的覆层厚度的测量 | 电涡流法测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度 |
探头型号 | FGA1.3磁感应探头 | FTA3.3H电涡流探头 |
测量范围μm | 0 ～ 1500μｍ，测量精度： 0～50μｍ，± 0.25μｍ；50～1000μｍ，± 0.5 ％； 1000～1500μｍ， < 2.5%。 | 0 ～ 1 200μｍ。测量精度：0～50μｍ，± 0.25μｍ；50～800μｍ，± 0.5 ％；800～1200μｍ，< 2.5% |
重量g | 230 | 230 |
规格 | (160 x 80 30) | (160 x 80 x 30) |
仪器主要技术参数：
设备型号 | DUALSCOPE FMP100 |
选配探头 | 双功能探头Probe FD10： 用于根据磁感应和涡流方法来测量涂镀层厚度，带微处理芯片的智慧型插入式探头，弹性测量系统。 电缆长度：1.5m（5 feet） |
分辨率 | 0.1um |
测量应用及测量范围 | 0-1300um NF/Fe 0-800um ISO/NF |
测量方法 | 磁感应/涡流法 自动识别 |
测量误差 以Fischer标准片为准 | NF/Fe 0-50um：≤0.5um 50-1300um：≤1% ISO/NF 0-100um：≤0.5um 100-800um：≤1% |
重复精度 以Fischer标准片为准 | 0-100um：≤0.25um 100-1300um：≤0.5% |
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