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Fischer测厚仪可检测镍 金 银涂层厚度

Fischer测厚仪可检测镍 金 银涂层厚度

更新时间:2020-11-11
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Fischer测厚仪可检测镍 金 银涂层厚度及元素分析
菲希尔台式荧光射线测厚仪,可检测多层金属涂层及元素分析

Fischer测厚仪可检测镍 金 银涂层厚度的详细资料:

品牌Fischer/德国菲希尔价格区间面议
产地类别进口应用领域电子,交通,冶金,航天,汽车

Fischer测厚仪可检测镍 金 银涂层厚度及元素分析

Fischer测厚仪可检测镍 金 银涂层厚度及元素分析

    Helmut Fischer集团是一家受德国和瑞士基金会控股、专业生产和销售涂镀层测厚仪、材料分析仪、微硬度测试仪和材料测试仪的集团公司。集团总部位于德国和瑞士,在德国、美国和英国各建有一个工厂、并设立了一个研究院和一个用户应用实验室,在全世界设有近50个分公司。
    公司由Helmut Fischer 博士于1953 年成立,自2008 年起由德国辛德芬根和瑞士休伦堡的 Helmut Fischer 基金会共同拥有。HELMUT FISCHER Holding AG 涂镀层测厚、材料分析、微硬度测试和材料测试领域可以为您提供比较先进的解决方案。

    FISCHER 的台式涂镀层测厚仪使用 X 射线荧光法或多探头的接触式测量技术,能提供好的性能和灵活性。由于运用了各种测量技术,因此能够为任何测量任务提供合适的解决方案。台式仪器可以通过软件和硬件接口轻松集成到生产和质量管理系统中。

FISCHER台式荧光射线测厚仪型号及功能

GOLDSCOPE

GOLDSCOPE系列X射线荧光仪器是专为分析黄金和其他贵金属而设计的 

XAN

用于快速、高效地测量镀层厚度及材料成分分析的测量仪器。 

XUL / XULM

基于 X 射线荧光法的测试仪器,坚固耐用,快速、高效地测量镀层厚度,特别适合电镀行业。

XDL / XDLM / XDAL

功能强大:XDL 系列仪器具有全面的配置方案,可手动或自动测试,是镀层厚度测量与材料成分分析的理想之选。

XDV-SDD

FISCHERSCOPE® XDV-SDD专为满足高要求的镀层厚度测量和材料分析而设计 

XDV-µ

FISCHER的XDV-µ型系列仪器,可用于测量电子或珠宝等行业中最微小结构的产品

XUV

X 射线荧光仪器,配有用于分析轻元素的真空测量室。


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