技术文章首页 > 技术文章 > 全部文章
进口Fischer测厚仪标准
点击次数：1995 更新时间：2017-01-12 打印本页面 返回
涂层测厚仪在测量物体时,除测量方法外,还会有其他因数会导致测量结果有所偏差,具体影响因数请看下表.
测量方式法 | 磁性测量 | 涡流测量 |
基体金属磁性质 | * |
|
基体金属电性质 |
| * |
边缘效应 | * | * |
曲率 | * | * |
试件粗糙度 | * | * |
磁场 | * |
|
附着物质 | * | * |
测头压力 | * | * |
测头取向 | * | * |
基体金属厚度 | * | * |
试件的形状 | * | * |
涂层测仪除了可以测量磁性金属基体和非磁性基体上的涂层,亦可以测量金属电镀的镀层测厚仪,因此,涂层测厚仪,通常也称为涂镀层测厚仪.
磁性涂层测厚技术标准和检定规程
标准：
标准GB/T4956-2003《磁性基体上非磁性覆盖层厚度测量磁性法》
标准ISO 2178-1982
检定规程：
JJG818-2005 《磁性、电涡流式覆层厚度测量仪》
