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菲希尔多功用测厚仪是工业和科研使用广泛的测厚仪器
点击次数:420 发布时间:2019-01-15 打印本页面 返回
   菲希尔多功用测厚仪是工业和科研使用广泛的测厚仪器  
   菲希尔多功用测厚仪广泛应用于各种涂胶层如水溶性胶层以及各种PE、PVC、树脂膜等材料厚度的在线检测,采用高精度红外反射探头,精密“口”字形扫描机构连续对被测物进行宽度方向上的左右扫描,工业用计算机采集数据,具有数据处理、扫描测量、任意点定点测量、图形曲线显示、偏差 报警、数据存储、查询等功能。
   菲希尔多功用测厚仪对材料表面保护、装饰形成的覆盖层,如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等,在有关国家和国际标准中称为覆层,覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环,是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对覆层厚度有了明确的要求。
   覆层厚度的测量方法主要有:楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线荧光法、β射线反向散射法、电容法、磁性测量法及涡 流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,菲希尔多功用测厚仪适用于抽样检验。X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
   随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步,测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。菲希尔多功用测厚仪适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研使用广泛的测厚仪器。
   菲希尔多功用测厚仪采用磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。菲希尔多功用测厚仪利用磁感应原理,原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上,如果覆层材料也有磁性,则要求与基材的导磁率之差足够大,当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时,仪器自动输出测试电流或测试信号。
 
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