技术文章首页 > 技术文章 > 全部文章
菲希尔台式测厚仪测量精度受影响，这几个原因跑不了
点击次数：667 更新时间：2022-07-12 打印本页面 返回
菲希尔台式测厚仪可无损地测量磁性金属基体上非磁性涂层的厚度及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆层的厚度。但在使用过程中某些因素可能会影响其测量精度。
下面简要介绍一下可能影响测厚仪测量精度的一些因素：
1、基体金属磁化：磁性法测量受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的）。为了避免热处理、冷加工等因素的影响，应使用与镀件金属具有相同性质的铁基片上对仪器进行校对。
2、基体金属厚度：每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度，大于这个厚度测量就不受基体厚度的影响。
3、边缘效应：菲希尔台式测厚仪对试片表面形状的陡变敏感，因此在靠近试片边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
4、曲率：试件的曲率对测量有影响，这种影响是随着曲率半径减小明显增大。因此不应在试件超过允许的曲率半径的弯曲面上测量。
5、表面粗糙度：基体金属和表面粗糙度对测量有影响。粗糙度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差。每次测量时，在不同位置上增加测量的次数，克服这种偶然误差。
如果基体金属粗糙还必须在未涂覆的粗糙相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用没有腐蚀性的溶液除去在基体金属上的覆盖层，再校对仪器零点。
6、附着物质：菲希尔台式测厚仪对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质，以保证探头与覆盖层表面直接接触。
