菲希尔测厚仪X射线XDL210产品信息

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210 是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及 材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，一起还能检测 大规模出产的零部件及印刷线路板上的镀层。

XDL 210 特别适用于客户进行质量控制、进料查验和生产流程监控。 典型的应用领域有： • 丈量大规模生产的电镀部件 • 丈量超薄镀层，例如：装饰铬 • 丈量电子工业或半导体工业中的功能性镀层 • 丈量印刷线路板 • 分析电镀溶液 XDL210 有着杰出的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。 比例接收器能完成高计数率，这样就可以进行高精度丈量。 因为采用了 FISCHER 基本参数法，因而无论是对镀层系统还是对固体和液体样 品，仪器都能在没有规范片的情况下进行丈量和分析。