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菲希尔测厚仪X射线XDL210产品信息

更新时间:2025-04-16      浏览次数:1082

菲希尔测厚仪X射线XDL210产品信息


FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210 是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及 材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,一起还能检测 大规模出产的零部件及印刷线路板上的镀层。

XDL 210 特别适用于客户进行质量控制、进料查验和生产流程监控。 典型的应用领域有: • 丈量大规模生产的电镀部件 • 丈量超薄镀层,例如:装饰铬 • 丈量电子工业或半导体工业中的功能性镀层 • 丈量印刷线路板 • 分析电镀溶液 XDL210 有着杰出的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器。 比例接收器能完成高计数率,这样就可以进行高精度丈量。 因为采用了 FISCHER 基本参数法,因而无论是对镀层系统还是对固体和液体样 品,仪器都能在没有规范片的情况下进行丈量和分析。

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