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菲希尔X射线测厚仪XDL210 镀银层测厚仪信息
点击次数:41 更新时间:2025-04-29 打印本页面 返回

菲希尔XDL210 X射线测厚仪核心产品特点

FISCHERSCOPE XDL 凭借性能,成为工业检测领域的理想之选。其具备强大的 DCM 功能,支持 0-80mm 远距离测量,即使在复杂环境下也能精准获取数据;固定光圈与滤光镜设计,确保测量结果稳定可靠。专为微小尺寸测量优化,可实现 1mm 以上测量点的精确检测,底部 C 型开槽的大容量测量舱,能轻松容纳各类待测工件。作为可编程台式设备,FISCHERSCOPE XDL 可自动化完成多批次测量任务,搭配标准 X 射线管与比例计数器,显著提升测量效率与准确性。

多元应用领域

在大规模电镀生产中,FISCHERSCOPE XDL 可快速检测电镀零件的镀层厚度,保障产品质量一致性;于防腐与装饰镀层领域,精准测定镍 / 铜基底上铬层厚度,为表面处理工艺提供关键数据支持。在电镀液分析环节,仪器能高效评估成分比例,助力优化电镀流程。此外,在黄金、珠宝及钟表行业,FISCHERSCOPE XDL 可准确检测贵金属镀层,为产品真伪鉴定与品质把控提供科学依据 。


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