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菲希尔X荧光射线测厚仪XDL简介

更新时间:2025-05-02      浏览次数:1021

德国FISCHER X-RAY XDL230

菲希尔X射线荧光镀层测厚及材料分析仪产品简介:

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230菲希尔X射线测厚仪是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230菲希尔X射线测厚仪有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器,比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。由于采用了FISCHER基本参数法,因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品,仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。

德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪产品应用:

测量大规模生产的电镀部件

测量超薄镀层,例如:装饰铬

测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

测量印刷线路板

分析电镀溶液


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