产品搜索
产品目录
- 德国Fischer菲希尔
- DMP测厚仪
- FischerMP0系列测厚仪
- DualScope MPOR测厚仪
- DeltaScope FMP10测厚仪
- DualScope FMP测厚仪
- Fischer测厚仪
- Couloscope CMS2测厚仪
- 菲希尔代理
- FischerScope MMS测厚仪
- X-RAY测厚仪
- 探头
- Fischer铁素体含量测试仪
- Fischer电导率测试仪
- 菲希尔多功用测厚仪
- 菲希尔台式测厚仪
- 菲希尔测厚仪
- POROSCOPE® HV40孔隙率测试仪
- FERITSCOPE铁素体含量测试仪
- ISOSCOPE FMP30测厚仪
- SR-SCOPE RMP30测厚仪
- PhaScope PMP10测厚仪
- SigmaScope SMP30测厚仪
- 超声波测厚仪
- Fischer膜厚仪
- 菲希尔铁素体含量测试仪
- Fischer孔隙率测试仪
- 致密性测试仪
- Fischer校准片
- 德国 EPK
- 英国Elcometer易高
- 英国泰勒霍普森Taylor Hobson
- 德国BYK
- 德国马尔 Mahr粗糙度仪
- 日本三丰Mitutoyo粗糙度仪
- 德国霍梅尔Hommel粗糙度仪
- 德国尼克斯QNix
- 美国API
- 美国狄夫斯高 Defelsko
- 德国Fraunhofer
联系方式
技术文章首页 > 技术文章 > 全部文章
美国 API 激光干涉仪的应用领域剖析
点击次数:106 更新时间:2025-05-29 打印本页面 返回
美国 API 激光干涉仪的应用领域剖析
美国 API 激光干涉仪凭借其高精度、高可靠性等特性,在多个关键领域发挥着至关重要的作用。
在航空航天领域,从飞机发动机制造到飞行器结构件加工,API 激光干涉仪无处不在。飞机发动机的叶片制造精度直接影响发动机的效率与安全性,API 激光干涉仪可精确检测叶片型面误差,确保叶片符合设计要求,保障发动机稳定运行。飞行器机身结构件的装配精度同样关键,它能测量装配过程中的位置误差、平面度误差等,为飞行器的整体性能和飞行安全提供保障。
半导体行业对精度的追求达到了很高,API 激光干涉仪成为该行业的得力助手。在芯片制造的光刻工艺中,需要将电路图案精确地刻在硅片上,激光干涉仪用于校准光刻机的运动精度,确保芯片上电路线条的宽度和间距符合设计标准,对于提高芯片的集成度和性能起着决定性作用。在半导体设备制造中,如晶圆划片机、键合机等,API 激光干涉仪用于检测设备关键部件的运动精度,保证设备在高速、高精度的工作状态下稳定运行。