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菲希尔金属X射线测厚仪简介
点击次数:95 更新时间:2025-06-09 打印本页面 返回
菲希尔 X 射线测厚仪XDL230凭借高精度与可靠性,在多个工业领域发挥关键作用。其典型应用场景包括大规模生产的电镀部件厚度检测,装饰铬等超薄涂层的精确测量,电子及半导体工业功能性镀层的质量把控,印刷线路板的全自动快速测量,以及电镀溶液成分分析。
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列是专为满足多样化需求设计的界面友好型台式测量仪器,依据使用场景不同,推出了多种型号。其中,XDL 210 型配备固定式工作台与固定位置的 Z 轴系统;XDL 220 型同样为固定式工作台,但采用了马达驱动的 Z 轴系统,提升操作便利性;XDL 230 型搭载可手动操控的 X/Y 工作台,搭配马达驱动的 Z 轴升降系统,适用于更复杂的测量需求;XDL 240 型则拥有全自动化优势,其马达驱动的 X/Y 工作台在保护门开启时,会自动移动至样品放置位置,且配备可编程的马达驱动 Z 轴升降系统,极大提高了测量效率与自动化程度 。