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泰勒霍普森粗糙度仪DUO应用信息
点击次数：96 更新时间：2025-06-11 打印本页面 返回
Surtronic DUO 是英国泰勒霍普森（Taylor Hobson）推出的高精度便携式表面粗糙度测量仪，基于接触式测量原理，通过金刚石测针与被测表面的精确接触，实现对工件表面微观几何特征的量化分析。该设备融合先进的传感器技术与智能算法，适用于生产现场、实验室及计量检测等多场景，满足 ISO、ASME 等国际标准对表面粗糙度的测量要求。
核心技术特性
1. 多元参数测量能力
支持测量20 + 项粗糙度参数，覆盖轮廓参数（如：
幅度参数：算术平均偏差 Ra、轮廓最大高度 Rz（ISO 4287）/ Rt（ASME B46.1）、均方根偏差 Rq
功能参数：轮廓支承长度率 Rmr(c)、偏斜度 Rsk、陡峭度 Rku
原始轮廓参数：Pa、Pz（适用于精密加工表面分析）
等），可满足从基础质量控制到复杂表面功能特性评估的多样化需求。
