高精度测量：Surtronic S-116 粗糙度仪能够提供极其精确的测量结果，粗糙度标准（Ra）测量精度可达 ±(2% + 0.004μm) ，工件或者元件表面（Ra）一次测量值精度为 ±3% 。这一高精度特性，使其能够满足对表面质量要求高的行业，如精密轴承制造、航空航天零部件加工等，确保产品质量符合严格的标准和规范。

丰富的测量参数：该仪器可测量多个粗糙度参数，包括 Ra（算术平均粗糙度）、Rv（轮廓最大谷深）、Rp（轮廓最大峰高）、Rz（十点高度粗糙度）、Rt（轮廓总高度）、Rq（均方根粗糙度）、Rsk（偏斜度）、Rmr（材料比）等 。在不同标准下，如 ISO、ASME、JIS 等，可测量的参数数量有所不同，最多可达 14 个参数，全面反映表面粗糙度特征，为用户提供详细、全面的表面质量信息。

广泛的测量范围：测量范围涵盖 200μm / 100μm / 10μm，分辨率可达 100nm / 20nm / 10nm ，能适应从粗糙表面到超精密表面的各种测量需求。无论是大型机械零部件的粗糙加工表面，还是光学镜片、电子芯片等超精密元件的光滑表面，Surtronic S-116 都能准确测量。