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泰勒霍普森 Surtronic S-116 粗糙度仪工业助手信息

更新时间:2025-06-13      浏览次数:792

高精度测量:Surtronic S-116 粗糙度仪能够提供极其精确的测量结果,粗糙度标准(Ra)测量精度可达 ±(2% + 0.004μm) ,工件或者元件表面(Ra)一次测量值精度为 ±3% 。这一高精度特性,使其能够满足对表面质量要求高的行业,如精密轴承制造、航空航天零部件加工等,确保产品质量符合严格的标准和规范。

丰富的测量参数:该仪器可测量多个粗糙度参数,包括 Ra(算术平均粗糙度)、Rv(轮廓最大谷深)、Rp(轮廓最大峰高)、Rz(十点高度粗糙度)、Rt(轮廓总高度)、Rq(均方根粗糙度)、Rsk(偏斜度)、Rmr(材料比)等 。在不同标准下,如 ISO、ASME、JIS 等,可测量的参数数量有所不同,最多可达 14 个参数,全面反映表面粗糙度特征,为用户提供详细、全面的表面质量信息。

广泛的测量范围:测量范围涵盖 200μm / 100μm / 10μm,分辨率可达 100nm / 20nm / 10nm ,能适应从粗糙表面到超精密表面的各种测量需求。无论是大型机械零部件的粗糙加工表面,还是光学镜片、电子芯片等超精密元件的光滑表面,Surtronic S-116 都能准确测量。


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