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英国泰勒霍普森粗糙度仪DUO核心信息
点击次数:69 更新时间:2025-06-20 打印本页面 返回

一、核心技术架构:微米级测量的底层逻辑

  1. 机械传感系统


  • 测针:90° 锥角金刚石测针,针尖曲率半径 5μm,经激光校准确保触针垂直偏移量≤0.5°

  • 驱动单元:采用音圈电机驱动,线性导轨直线度误差在≤0.1μm/10mm,速度控制精度达 ±0.5%


  1. 信号处理链


  • 压电传感器:采用 PZT-5H 陶瓷材料,频响范围 0-10kHz,可捕捉 5nm 级的微小位移

  • 数字滤波:集成高斯滤波、2RC 滤波等 6 种标准滤波器,支持 ISO 11562 规定的截止波长自动切换(0.08-8mm)


  1. 算法引擎
    内置 32 位 ARM 处理器,搭载泰勒开发的 FastRA 算法,可在 2000 点 / 秒的采样率下实现实时参数计算,满足 GB/T 1031-2009 等 12 国标准的算法兼容。

二、场景化创新:工业痛点的针对性突破

应用挑战DUO 解决方案技术指标
曲面轮廓测量可选配 5mm 半径弧面测头,配合倾角补偿算法曲面测量误差≤2%
现场数据管理内置 16GB 存储,支持 CSV/XML 格式导出,兼容 MES 系统可存储 10 万组测量数据
极粗糙表面检测扩展量程模式下 Rt 可达 1999μm,采用分段式放大技术动态范围 1:20000
防爆环境作业可选 ATEX 认证防爆套件,满足 Zone 2 危险区域使用Ex nA IIC T4 Gc 认证


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