核心技术，精准测量

菲希尔 XDL210 X射线测厚仪运用先进的 X 射线荧光光谱法，实现对镀层厚度的精准测量。这种无损检测方式，不仅能确保样品的完整性，更通过自动聚焦功能，将测量准确性提升到新的高度。无论是汽车发动机零部件、航空航天金属结构件，还是电子设备外壳等，在大规模生产的电镀部件镀层检测中，XDL210 都能精准给出厚度数据，为质量控制提供坚实保障。其元素测量范围涵盖 Cl（17）-U（92），最多可同时测量 24 种元素、23 层镀层，复杂镀层结构也能轻松应对。

强大硬件，适配多样需求

硬件性能是菲希尔 XDL210 X射线测厚仪的又一亮点。其动 X/Y 平台移动范围≥95x150mm，可用工作台面≥420x450mm，足以满足多样品放置与测量需求，无论是小型零部件还是较大尺寸的样品，都能在工作台上稳定就位。电动 Z 轴支持手动 / 自动聚焦，移动范围≥140mm，可适配不同高度样品，测量过程更加灵活便捷。测量距离补偿法（DCM）技术的运用，使其可实现 80mm 深度的腔体样品远距离对焦测量，对于已布元器件的电路板或腔体结构部件的测试，表现出色。可变高压支持 30KV、40KV、50KV 三档调节，配合 φ0.3 的圆形准直器（还有多种规格可选），以及稳定的比例接收器 X 射线探测器，无论何种测试场景，XDL210 都能精准捕捉信号，保证测量精度。高分辨率 CCD 摄像头，放大倍数 40 - 160 倍，沿初级 X 射线光束方向观察测量位置，手动聚焦、十字线（带有经过校准的刻度和测量点尺寸）、可调节亮度的 LED 照明，以及激光光点定位，让样品观察与定位变得轻而易举。