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泰勒霍普森粗糙度仪DUO测量信息
点击次数:40 更新时间:2025-07-03 打印本页面 返回

一键操作即可快速获取多项粗糙度参数,包括 Ra(轮廓算术平均偏差)、Rz(微观不平度十点高度)、Rp(轮廓最大峰高)、Rv(轮廓最大谷深)、Rt(轮廓最大高度)等基础参数,还支持 Rz1max、Rsk(偏斜度)、Rq(均方根偏差)、Rku(峰度)及 P 系列(轮廓曲线)参数(如 Pa、Pz 等),满足多场景测量需求。

采用接触式测量技术,核心部件为耐磨金刚石测针与精密机动驱动装置。测针在电机驱动下沿被测表面移动,高灵敏度压电传感器实时捕捉测针垂直位移,将机械运动转化为电子信号;经数字化处理后传输至微处理器,通过标准化算法计算出表面粗糙度参数,实现高精度测量。

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