泰勒霍普森粗糙度仪 DUO，在表面粗糙度测量领域。其采用接触式测量原理，配备耐磨金刚石测针与精密机动驱动装置。电机驱动测针在被测物体表面稳定移动，高感应度压电传感器捕捉测针垂直位移，将机械移动转化为电子信号，经数字化处理后由微处理器运用标准化算法，即时计算出表面粗糙度参数。

DUO 功能强大，一键操作即可快速测量 Ra（轮廓算术平均偏差）、Rz（微观不平度十点高度）、Rp（轮廓最大峰高）、Rv（轮廓最大谷深）、Rt（轮廓最大高度）等多个粗糙度参数，并清晰显示在 2.4 英寸直观 LCD 彩色屏幕上。

仪器使用充电电池供电，续航能力强，能在各类环境和物体表面实现快速、便捷且精确的现场测量。其还具备诸多实用设计：运用蓝牙技术，实现驱动与显示 / 控制装置间快速可靠通信；可呈现详细轮廓图形，助力分辨测量区域问题；通过滑轨和锁定装置，能分为显示 / 控制与驱动两部分，便于在特殊位置测量。

在技术参数方面，分辨率达 0.01μm（0.4μin） ，量程上，Ra 最大 40μm（1600μin），Rz、Rv、Rp、Rt 最大 199μm（7800μin），重复性为示值的 2% + 噪声，精度是读数的 5% + 0.1μm（4μin）。此外，操作环境温度为 0 - 40℃，湿度 0 - 80% 非冷凝，存储环境温度 0 - 50℃，湿度 0 - 80% 非冷凝 。

DUO 应用广泛，在工业生产中，可用于研磨、车削等加工工艺的过程控制；在航空航天领域，能保障涡轮叶片等关键零部件质量；在印刷辊、地板、玻璃等产品生产中，也可有效把控表面质量。