在现代工业生产和质量检测领域，精准测量镀层厚度与深入分析材料成分是确保产品质量、性能及使用寿命的关键环节。菲希尔 XULM240 作为一款先进的 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪，凭借其技术性能与创新设计，成为众多行业信赖的得力工具。

测量原理：X 射线荧光光谱法，精准无损检测

菲希尔 XULM240 运用 X 射线荧光光谱法进行测量。当仪器的 X 射线源发射出的 X 射线照射到样品表面时，样品中的元素会吸收 X 射线能量，并激发出特征 X 射线荧光。不同元素的特征 X 射线荧光具有特定的能量和波长，通过探测器精确测量这些荧光的能量和强度，再利用专业算法进行分析，就能准确确定样品中所含元素的种类及含量，进而精确计算出镀层厚度。这种测量方式属于无损检测，不会对样品造成任何损伤，既能保障样品完整性，又能确保测量结果的准确性与可靠性，适用于各类珍贵或对完整性要求较高的样品检测。