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泰勒霍普森粗糙度仪PK-01测针信息

更新时间:2025-08-01      浏览次数:765

泰勒·霍普森(Taylor Hobson)作为精密测量领域者,开发了一系列高精度测针,以满足不同工业应用中的复杂测量需求。其中,PK-01小孔测针专为端条件下的精密测量而设计,特别适用于测量小孔、沟槽以及狭窄或难以接触的表面。

PK-01小孔测针主要特点:

超细测针端:提供测针半径低至 2μm 的版本,能够深入微小孔洞和狭缝,实现纳米级精度测量。

深孔测量能力:具备测量深达70mm的孔深能力,适用于深孔粗糙度或轮廓检测。

灵活的测量配置:

配备50mm长测针升降装置,便于调节测针位置。

支持直角附件,可在空间受限的环境中进行横向或垂直测量。

测针支持翻转向上测量,适应倒置或复杂几何表面的检测需求。

稳定支撑系统:采用防滑V型脚架设计,确保仪器在光滑或弯曲表面上依然保持稳定,无需额外夹具或昂贵的支撑工装。

全表面适应性:可在任意表面和不同高度进行测量,极大提升了现场检测的灵活性和效率。

标准配置包含:

显示单元

112-1502 标准测针

测针连接线

多刻线样板(用于校准和验证)

测针提升机构

USB接口充电器

使用手册

USB通讯电缆

仪器箱(便于携带和保护设备


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