FISCHERSCOPE® X-RAY XAN500 是一款高度灵活的能量色散型X射线荧光（ED-XRF）分析仪，专为镀层厚度无损测量及材料分析而设计。其突出的可移动性与多功能性，使其成为工业现场和实验室进行质量控制、进料检验及生产流程监控的理想工具。

核心特点：

• 性能： 配备高性能硅漂移探测器（SDD），提供优异的分析精度与高探测灵敏度，确保测量结果的可靠性。

• 分析技术： 采用FISCHER基本参数法（FP法），支持在无需依赖校准标样的情况下，对固体或液体样品进行成分分析及镀层厚度测量，显著提升检测效率。

• 结构优化设计： 仪器结构稳固，可安全、便捷地放置于待测工件表面，保证测量（无论是镀层厚度还是材料成分）的高度再现性。

应用场景广泛：

XAN500 满足多样化的工业检测需求，典型应用包括：

• 在生产线上实时监测镀层厚度（如 Zn, ZnNi, Ag, Au）。

• 便捷、稳定地测量大型部件（如管道、外壳、机械零件）。

• 对小型样品（如螺母、螺栓）进行精确测量（通过选配测量箱转换为全功能台式模式）。

• 在电镀过程中进行移动式实时监控。

• 对合金材料成分进行现场快速分析。

独特优势：

• 一机两用，灵活高效：

• 作为手持式仪器，可自由移动，轻松应对大型工件及台式设备难以触及位置的检测。

• 配合专用测量箱，即刻转变为全功能台式仪器，精准测量各类小型零件。

• 无缝集成： 可轻松整合到自动化生产线控制系统中，实现 100% 在线质量监控。

• 长期稳定性： 秉承 FISCHERSCOPE X-RAY 仪器一贯的出色表现，具备优异的长期稳定性，大幅减少校准频率与维护成本。