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FISCHER代理 X射线测厚仪 XDL240产品信息

更新时间:2026-01-13      浏览次数:402

菲希尔X射线测厚仪FISCHER XDL240关键技术参数

1. 测量系统

X 射线源:带铍窗口的钨靶射线管

高压档位:三档可调 (30kV/40kV/50kV)

探测器:比例计数管 (Proportional counter tube),兼顾快速测量与小光斑需求

测量元素范围:钛 (Ti,22) 至铀 (U,92),最多可测25 层镀层结构

最小测量光斑:约Ø0.2mm(标准配置)

基本滤片:3 种可切换,优化不同元素激发效率

2. 工作台参数

XY 轴行程:≥95×150mm,定位精度高

Z 轴行程:≥140mm,可编程自动聚焦,适配不同高度样品

DCM 技术:测量距离补偿法,可实现80mm 深度腔体远距离对焦,解决深腔测量难题

3. 环境与安全

工作温度:10°C – 40°C,湿度≤95%(无结露)

存储温度:0°C – 50°C

防护等级:整机符合辐射安全标准,带安全联锁保护


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    021-58951091

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