24小时销售热线

17321352692

技术文章

我的位置:首页  >  技术文章  >  泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC DUO信息

P产品分类RODUCT CATEGORY

泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC DUO信息

更新时间:2026-01-19      浏览次数:475

1. 泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC DUO创新分体式设计

显示控制单元与驱动测量单元分离,通过蓝牙实现无线通讯,便于在狭小空间或复杂工件上操作

可组合使用(一体化手持)或分离使用(远程控制测量),满足不同工况需求

2. 极简操作体验

一键测量:单键触发完整测量流程,约5 秒完成循环

无需编程设置,开机即用,几乎不需要操作员培训

2.4 英寸彩色 LCD 显示屏,清晰呈现测量参数、轮廓图形与状态信息

3 个功能键快速切换参数、单位(公制 / 英制),无需重新测量

3. 精准测量系统

耐磨金刚石测针(标准型)+ 高灵敏度压电传感器,捕捉表面微观形貌变化

测量原理:机械位移→电子信号→标准化算法→粗糙度参数,符合ISO 4287标准

内置校准标准,确保长期测量一致性

4. 高效数据管理

结果自动保存至下一次测量,支持Ra、Rz、Rp、Rv、Rt、Rz1max、Rsk、Rq、Rku等多参数显示

红外接口可在1 米距离操作,提升使用便利性

可通过 USB 充电与数据传输

充电电池支持至少 5,000 次测量,满足全天工作需求


  • 电话:TEL

    021-58951091

  • 邮箱:EMAIL

    2840159840@qq.com

  • 传真:FAX

    86-021-50473901

版权所有© 2026 笃挚仪器(上海)有限公司 All Rights Reserved     备案号:沪ICP备16027846号-2

技术支持:化工仪器网     管理登录     sitemap.xml

TEL:021-58951091

扫码添加微信