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PGI系列轮廓仪信息
点击次数：29 更新时间：2026-02-04 打印本页面 返回
PGI（Phase Grating Interferometer）系列是泰勒·霍普森推出的超高精度接触式轮廓仪，广泛用于计量实验室和制造领域。PGI 采用独特的相位光栅干涉技术，结合纳米级分辨率的垂直传感器和高稳定性机械结构，可实现亚纳米级的形貌测量。
该系统能够精确测量复杂几何形状，如非球面透镜、自由曲面、微结构阵列、密封面、刃口半径等，测量范围从几微米到数十毫米，垂直分辨率可达 0.01 nm。PGI 支持全自动测量程序、多轴联动扫描及温度补偿功能，确保长期重复性和准确性。配合 Metrology 软件套件，用户可进行 ISO 10110 光学元件分析、GD&T 几何公差评估等高级任务。PGI 被广泛应用于光学、半导体、所及国防科技领域，是表面形貌与几何计量的黄金标准设备。
