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P产品分类RODUCT CATEGORY
更新时间：2026-08-11 
浏览次数：202XDL237 是菲希尔 FISCHERSCOPE X-RAY 系列中的增强版型号，采用能量色散 X 射线荧光法（EDXRF）进行无损检测。该设备专为高精度的金属镀层厚度测量及成分分析而设计，能够轻松应对小于 1 微米的超薄涂层测量挑战。XDL237 配备了高性能的硅漂移探测器（SDD），将高 X 射线能量分辨率与高光谱计数率相结合，元素检测范围广泛，涵盖从铝 (Al, 13) 到铀 (U, 92) 的多种元素，并包括硅、氯、磷等轻元素，测量相对精度可达 ±0.5%。
在自动化与智能化设计方面，XDL237 展现了强的大的样品适应能力。设备拥有 420×450mm 的宽敞样品放置区域，配合快速可编程的 XY 平台，可自动完成各种尺寸样品的批量测量。高分辨率摄像机支持放大至 0.1 毫米直径的视野，结合可编程 Z 轴升降系统，使操作人员能够精准定位微小的测量点。此外，多准直器配置（0.1mm-0.3mm 可选）进一步提升了微小区域的测量能力。WinFTM 专业分析软件为数据采集、存储及报告生成提供了全面的软件支持，确保分析过程的高效与准确。
安全合规是 X 射线设备运行的基石。XDL237 配备了自动安全系统，可有效防止样品与检测器之间的物理接触，设备整体符合现行辐射防护法规并通过了刑事认证，保障了操作人员的安全。单点检测速度在 60 至 200 秒之间，兼顾了精度与效率。凭借这些技术特性，XDL237 在印刷电路板（PCB）镀层检测、电子元器件制造、薄膜材料分析、多涂层系统评估以及 RoHS 有害物质检测等领域得到了广泛应用，为精密制造和材料科学研究提供了可靠的数据支撑。
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