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P产品分类RODUCT CATEGORY
更新时间：2026-10-10 
浏览次数：7接触式（触针式）：采用耐磨金刚石测针（针尖半径通常为2μm或5μm）在工件表面匀速滑行，测针随表面微观峰谷产生垂直位移，通过高灵敏度传感器（压电式或电感式）将机械位移转换为电信号，经数字化处理后由内置算法计算粗糙度参数。 部分手持型号（如Surtronic DUO）还配有导块结构，导块沿工件表面移动形成测量基准，可起到机械滤波作用，去除波纹度成分，保留粗糙度数据。
非接触式（光学式）：以LUPHOScan系列为代表，基于多波长干涉技术（MWLI®）进行扫描测量，无需接触工件即可获取三维表面形貌，适用于光学镜片、自由曲面等易损或超光滑表面。
PGI相位光栅干涉技术：Form Talysurf PGI Optics系列采用专有PGI技术，兼具触针式大范围测量与光学高精度优势，可测量大尺寸透镜及衍射表面。
Ra（轮廓算术平均偏差）：常用的粗糙度参数，反映表面平均高低程度。
Rz（轮廓最大高度）：评定长度内峰谷之间的垂直距离。
Rp / Rv：最大峰高与最大谷深。
Rt：总轮廓高度。
Rq / Rsk / Rku：均方根偏差、偏斜度、陡度等高级参数。
RSm / Rmr(c)：间距参数与材料比率曲线参数。
三维参数：非接触式设备可输出Sa、Sq等三维表面参数。
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