德国菲希尔 XDL 230 荧光射线测厚仪：精密镀层检测的可靠选择
德国菲希尔 FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230 是一款能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪，适用于对镀层厚度、材料成分以及电镀溶液进行无损检测。它采用台式结构、手动 X/Y 工作台与马达驱动 Z 轴相结合的设计，既能满足精密定位需求，也适合电子、电镀、汽车、航空航天、医疗及珠宝等行业的质量控制、进料检验和生产过程监控。
测量原理与核心算法
XDL 230 基于 X 射线荧光光谱法工作：X 射线管发射初级 X 射线激发样品，使元素原子产生特征 X 射线荧光，探测器接收荧光信号后计算镀层厚度和元素组成。该过程不破坏样品，适合成品、半成品及精密零件检测。
仪器采用菲希尔基本参数法，内置纯元素频谱库，在多数情况下无需依赖标准片即可完成镀层系统、固体及液体样品的测量与分析。同时配备 MQ 值显示功能，可判断测量程序与样品是否匹配，降低误操作风险
更新时间：2026-10-26 
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