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菲希尔黄金镀层测厚仪信息

更新时间:2025-04-27      浏览次数:776

菲希尔X射线GOLDSCOPE SD特点

  1. 紧凑耐用设计
    采用台式设计,结构紧凑且坚固,适合长期使用,符合EN 61010、DIN ISO 3497和ASTM B 568等国际标准。

  2. X射线荧光技术优化
    硬件和软件专为黄金及贵金属分析优化,采用X射线荧光(XRF)技术,无需样品制备,实现无损、快速(典型测试时间5秒)且高精度分析。

  3. 型号与探测器差异

    • SD 510/SD 515:配备硅PIN探测器,适合快速检测,适用于当铺、黄金买卖和小型实验室。

    • SD 520/SD 550:配备硅漂移探测器(SDD),分辨率更高(≤180eV),尤其擅长测量相近元素(如铂族金属),SD 550还支持多滤波器和准直器切换,适应复杂需求。

  4. 便捷操作设计

    • 测量舱宽敞(最大样品高度90mm),支持自下而上的测量方向,透明窗口便于观察,集成视频显微镜辅助精准定位测量点。

    • 操作简单:开舱放置样品后,一键启动即可完成分析。

  5. 软件支持
    预装FISCHER WinFTM®软件,内置贵金属分析程序,支持数据管理、报告生成及自定义测试任务,优化工作流程


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