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菲希尔黄金镀层测厚仪信息
点击次数：46 更新时间：2025-04-27 打印本页面 返回
菲希尔X射线GOLDSCOPE SD特点
紧凑耐用设计
采用台式设计，结构紧凑且坚固，适合长期使用，符合EN 61010、DIN ISO 3497和ASTM B 568等国际标准。X射线荧光技术优化
硬件和软件专为黄金及贵金属分析优化，采用X射线荧光（XRF）技术，无需样品制备，实现无损、快速（典型测试时间5秒）且高精度分析。型号与探测器差异
SD 510/SD 515：配备硅PIN探测器，适合快速检测，适用于当铺、黄金买卖和小型实验室。
SD 520/SD 550：配备硅漂移探测器（SDD），分辨率更高（≤180eV），尤其擅长测量相近元素（如铂族金属），SD 550还支持多滤波器和准直器切换，适应复杂需求。
便捷操作设计
测量舱宽敞（最大样品高度90mm），支持自下而上的测量方向，透明窗口便于观察，集成视频显微镜辅助精准定位测量点。
操作简单：开舱放置样品后，一键启动即可完成分析。
软件支持
预装FISCHER WinFTM®软件，内置贵金属分析程序，支持数据管理、报告生成及自定义测试任务，优化工作流程
