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更新时间:2025-04-27
浏览次数:1167菲希尔X射线测厚仪XULM240宽泛量程与高精度
可测量从超薄镀层(如50nm金层)到厚镀层(如100μm锡层)
标准校准下精度达±5%(如Au层>0.1μm时),无校准模式精度±10%
重复精度优异,例如80nm金层的重复性误差仅±2.5nm
微区测量能力
微聚焦X射线管设计,最小测量点达100μm(0.09×0.09mm²),适合连接器、PCB微线路等微小结构
比例计数器支持高达数千cps的计数率,提升测量效率
多层与合金分析
支持单层、双层(含合金层)、三层镀层测量(如Cr/Ni/Cu/ABS)
通过基本参数法(FP法)无需标准片即可分析固态/液态样品成分
