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菲希尔镀层测厚仪XULM240产品信息
点击次数：48 更新时间：2025-04-27 打印本页面 返回
菲希尔XULM240 FISCHER代理核心测量性能
菲希尔X射线测厚仪XULM240宽泛量程与高精度
可测量从超薄镀层（如50nm金层）到厚镀层（如100μm锡层）
标准校准下精度达±5%（如Au层＞0.1μm时），无校准模式精度±10%
重复精度优异，例如80nm金层的重复性误差仅±2.5nm
微区测量能力
微聚焦X射线管设计，最小测量点达100μm（0.09×0.09mm²），适合连接器、PCB微线路等微小结构
比例计数器支持高达数千cps的计数率，提升测量效率
多层与合金分析
支持单层、双层（含合金层）、三层镀层测量（如Cr/Ni/Cu/ABS）
通过基本参数法（FP法）无需标准片即可分析固态/液态样品成分
