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菲希尔镀层测厚仪XULM240产品信息

更新时间:2025-04-27      浏览次数:1167

菲希尔XULM240 FISCHER代理核心测量性能

  1. 菲希尔X射线测厚仪XULM240宽泛量程与高精度

    • 可测量从超薄镀层(如50nm金层)到厚镀层(如100μm锡层)

    • 标准校准下精度达±5%(如Au层>0.1μm时),无校准模式精度±10%

    • 重复精度优异,例如80nm金层的重复性误差仅±2.5nm

  2. 微区测量能力

    • 微聚焦X射线管设计,最小测量点达100μm(0.09×0.09mm²),适合连接器、PCB微线路等微小结构

    • 比例计数器支持高达数千cps的计数率,提升测量效率

  3. 多层与合金分析

    • 支持单层、双层(含合金层)、三层镀层测量(如Cr/Ni/Cu/ABS)

    • 通过基本参数法(FP法)无需标准片即可分析固态/液态样品成分


  • 电话:TEL

    021-58951091

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