菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XAN500核心特点与优势

特性详情价值

二合一测量单次测量同时获取镀层厚度与成分分析结果提高检测效率，减少操作步骤 

三点支撑设计确保仪器放置准确稳定，提升测量重复性适用于曲面、复杂形状工件，保证结果一致性

SDD 探测器高性能硅漂移探测器，≤160 eV 分辨率 (Mn-Kα)薄膜检测精度高，灵敏度好，适合多层 / 合金镀层

多模式应用支持手持、台式 (配测量箱)、生产线集成三种模式灵活应对不同场景，大小工件均可测量

无标样测量基于菲希尔基本参数法，无需标准样品即可分析简化现场快速检测流程，降低成本

IP54 防护防尘防水，适合户外与恶劣工业环境提高设备耐用性，扩大应用范围

长续航电池单次充电可持续工作约 6 小时满足长时间现场测量需求